[发明专利]用于交叉污染控制系统的光学流体传感器有效

专利信息
申请号: 201780076189.4 申请日: 2017-10-11
公开(公告)号: CN110114300B 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: E·P·布乔尼波;J·J·布莱尔;M·W·杜德利;R·L·亨德森 申请(专利权)人: 纳普科有限责任公司
主分类号: B67D7/34 分类号: B67D7/34;G01N33/28;G01N21/85
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 周全
地址: 美国密*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 交叉 污染 控制系统 光学 流体 传感器
【权利要求书】:

1.一种光学流体传感器,包括:

主体,限定腔室并具有一个或多个孔,所述一个或多个孔用于允许流体进入所述腔室;

光源,光学地耦合至所述腔室并被配置成用于向所述腔室中发射IR光、UV光和可见光;以及

检测器,光学地耦合至所述腔室并被配置成用于从所述腔室接收光,其中,所述检测器测量由所述检测器接收的一个或多个波长的光的强度,其中所述光源和所述检测器被定位成使得当流体被设置在所述腔室内时,来自所述光源的所发射的光在由所述检测器接收之前传递到设置在所述腔室中的所述流体中并通过所述流体;

处理器;

一个或多个存储器模块,通信地耦合至所述处理器;以及

机器可读指令,被存储在所述一个或多个存储器模块上,所述机器可读指令在由所述处理器执行时使所述光学流体传感器执行至少以下步骤:

向所述光源传送控制信号,以使所述光源向所述腔室中发射IR光;

在所述检测器处接收IR光;

处理在所述检测器处接收的所述IR光,以确定所接收的IR光的强度;

将所接收的IR光的强度与阈值强度进行比较;

基于所述比较确定存在流体;

向所述光源传送另一控制信号,以使所述光源向所述腔室中发射UV光,以便使所述流体荧光出可见光;

在所述检测器处接收可见光;

处理所接收的光,以确定所接收的光的波长和强度信息;

将所接收的光的波长和强度信息与所述一个或多个存储器模块中所存储的所述一个或多个流体简档进行比较,其中,所述一个或多个流体简档中的每个流体简档包括关于所述流体的一个或多个荧光属性的信息;以及

基于所述比较来确定所述腔室中所述流体的流体类型。

2.如权利要求1所述的光学流体传感器,其中,所述检测器和所述光源被定位成彼此面对,其中,来自所述光源的所发射的光沿从所述光源通过所述腔室中的流体并到达所述检测器的大致线性路径行进。

3.如权利要求1所述的光学流体传感器,进一步包括反射器。

4.如权利要求3所述的光学流体传感器,其中,所述光源和所述检测器被定位在所述腔室的第一侧处,并且所述反射器被定位在所述腔室的第二侧处,其中,当流体被设置在所述腔室内时,来自所述光源的所发射的光行进通过所述腔室中的所述流体,从所述反射器反射,并行进到所述检测器。

5.如权利要求1所述的光学流体传感器,其中,所述光源和所述检测器通过被定位在所述光源与所述腔室之间的透明构件而流体地从所述流体隔离;其中,所述透明构件允许来自所述光源的光通过并进入所述流体中。

6.如权利要求1所述的光学流体传感器,进一步包括至少一个温度传感器,用于测量所述光源的温度或流体温度。

7.如权利要求1所述的光学流体传感器,进一步包括:

机器可读指令,被存储在所述一个或多个存储器模块上,所述机器可读指令在由所述处理器执行时使所述光学流体传感器执行至少以下步骤:

向所述光源传送控制信号,以使所述光源向所述腔室中发射可见光;

在所述检测器处接收可见光;

处理所接收的光,以确定所接收的光的波长和强度信息;

将所接收的光的波长和强度信息与所述一个或多个存储器模块中所存储的一个或多个流体简档进行比较;以及

基于所述比较来确定所述腔室中所述流体的流体类型。

8.如权利要求1所述的光学流体传感器,进一步包括所述一个或多个存储器模块中所存储的、在由所述处理器执行时使所述光学流体传感器执行至少以下步骤的机器可读指令:

从温度传感器接收温度信号;以及

基于所述温度信号来调整所述一个或多个存储器模块中所存储的所述流体简档或者所接收的光的波长和强度信息。

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