[发明专利]填充水平位置传感器有效
申请号: | 201780075004.8 | 申请日: | 2017-12-04 |
公开(公告)号: | CN110036262B | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | J·凯贝尔;H·博尼克;K-P·班纳斯 | 申请(专利权)人: | 卓越有限公司 |
主分类号: | G01F23/26 | 分类号: | G01F23/26 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 朱立鸣 |
地址: | 德国海*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 填充 水平 位置 传感器 | ||
1.一种用于确定容器中的填充材料的填充水平位置的测量装置,其中,所述测量装置至少包括第一测量传感器、第二测量传感器和第三测量传感器,其中所述测量传感器分别传递测量传感器信号并且在高度方向上成彼此间隔开的关系,使得所述第一测量传感器在所述高度方向上布置得比其它测量传感器更为上方,所述第二测量传感器在所述高度方向上布置在另两个测量传感器之间,并且所述第三测量传感器在所述高度方向上布置得比其它两个测量传感器更为下方,其中,设有具有至少三个测量输入部的读出装置,用于读出所述测量传感器信号,其中每个测量传感器信号取决于邻近对应的测量传感器所布置的填充材料的材料特性,其中,设有校准装置,所述校准装置构造成,如果所述读出装置检测到仅一个测量传感器的测量传感器信号的变化,则所述校准装置确定所述填充水平位置在所述测量传感器的测量检测区域中,即在所述测量传感器下方的所有测量传感器完全在所述测量水平位置下方并且在所述测量传感器上方的所有测量传感器完全布置在所述填充水平位置上方,并且,将传感器信号变化的所述测量传感器的上方的测量传感器的任意测量信号用作非润湿的状态的第一校准值,并且将传感器信号变化的所述测量传感器的下方的任意测量信号用作完全润湿的状态的第二校准值,基于传感器信号变化的所述测量传感器检测的信号、所述第一校准值和所述第二校准值来计算所述填充水平位置;
其中,设置有至少两个分段传感器,所述至少两个分段传感器在所述高度方向上以彼此间隔开的关系布置,其中,每个分段传感器具有分段检测区域,所述分段检测区域在所述高度方向上覆盖至少两个测量传感器的所述测量检测区域,其中所述读出装置具有至少两个分段测量输入部,用于读出所述分段传感器信号,其中测量检测区域在不同的分段检测区域内的至少两个测量传感器连接到所述读出装置的相同的测量输入部,并且,设置有监控装置,当检测到所述读出装置的测量输入部的信号中的改变时,所述监控装置确定所述分段测量输入部,在所述分段测量输入部处也检测变化的信号,并从中导出测量传感器已在所述测量输入部处引起信号变化的信息。
2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述测量传感器是电容式测量传感器,每个所述电容式测量传感器都具有相应的测量电极,利用所述测量电极能测量在所述测量电极和参考电极之间的电容。
3.根据权利要求2所述的测量装置,其特征在于,所有测量传感器使用相同的参考电极。
4.根据权利要求1至3中一项所述的测量装置,其特征在于,所有测量传感器在所述高度方向上一个接一个地布置在一条线上。
5.根据权利要求1至3中一项所述的测量装置,其特征在于,各个测量传感器布置成使得由所述各个测量传感器检测的测量区域在所述高度方向上彼此邻接。
6.根据权利要求1至3中一项所述的测量装置,其特征在于,设有多于三个的测量传感器,并且所述校准装置构造成,使得所述校准装置基于在所述高度方向上更为向上地布置的所述测量传感器的所述测量传感器信号的平均值和基于在所述高度方向上更为向下地布置的所述测量传感器的所述测量传感器信号的平均值,对由既不在正顶部处也不在正底部处定位的测量传感器所检测的填充水平位置来执行计算。
7.根据权利要求6所述的测量装置,其特征在于,进行平均时不考虑在所述高度方向上在上方直接相邻的所述测量传感器的所述测量传感器信号。
8.根据权利要求7所述的测量装置,其特征在于,在所述平均操作中,也不考虑在所述高度方向上在下方直接相邻的所述测量传感器的所述测量传感器信号。
9.根据权利要求1至3中一项所述的测量装置,其特征在于,一旦用于测量传感器的所述读出装置检测到完全定位在所述填充水平位置之下的状态中的测量信号以及还检测到完全定位在所述填充水平位置之上的状态中的测量信号,所述校准装置从所述两个检测值形成差异,并且使用所述差异来用于从所述测量传感器的所述检测到的测量信号计算所述填充水平位置,所述填充水平位置置于所述测量传感器的所述检测区域内。
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