[发明专利]基质辅助激光解吸/离子化质量分析方法

说明书

本发明涉及基质辅助激光解吸离子化(Matrix‑Assisted Laser Desorpt ion Ionization)质量分析方法，详细而言，根据本发明的质量分析方法包括：使分析对象物质进行基质辅助激光解吸离子化而得到质谱，分别利用两个以上的彼此不同的基质而得到作为分析对象物质的质谱的检测谱的步骤；以及在各个检测谱中去除该基质的峰而获得基质‑去除谱后，基于彼此不同的各个基质的基质‑去除谱而得到分析对象物质的校正的质谱的步骤。

技术领域

本发明涉及基质辅助激光解吸/离子化质量分析方法。

背景技术

作为用于质量分析的离子化方法之一，已知有基质辅助激光解吸/离子化(MALDI＝Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization,MALDI)法。MALDI法对试料短时间照射激光而使试料瞬间气化，从而无需分解试料中的分析对象物质(analyte)的分子而离子化。

在MALDI质量分析法中一般将分析对象物质的溶液与基质溶液混合后，涂布在试料板上，通过蒸发去除溶剂，从而制造试料。当对该试料照射激光时，基质吸收激光的能量而基质的一部分迅速被加热，与分析对象物质一起被气化(解吸)而被离子化。然后，通过测定电磁场内带电荷的离子的运动，从而测定分析对象物质的分子量。

MALDI质量分析法具有以下优点：由于分析对象物质不被碎片化而能够实现准确的分子量的测定，并且检测灵敏度高而能够检测出几飞摩尔水平的分析对象物质，一般只具有单电荷而非多电荷(multiple charge)，因此质谱简单且容易分析，由于可以将分析对象物质与基质混合而分注到试料板后干燥而进行分析，从而试料准备简单，分析时间短至1分钟以内，因此能够进行迅速的分析(可大量高速分析)，较少地受到缓冲溶液或盐等污染的影响，仪器使用和维持费用低廉。

虽然迄今为止MALDI质量分析法特别地利用于高分子化合物的离子化，但由于上述优点，近年来向低分子化合物的应用的需求非常高。但是，通常在MALDI质量分析法中用作基质的物质具有几百道尔顿(Da)左右的分子量。由此，利用基质进行MALDI质量分析时，质谱(mass spectr um)中在低质量(m/z)区域观测到显著的基于基质的离子峰。当分析对象物质为高分子化合物时，这种低质量区域内的基质峰的存在不会成为问题，但分析对象物质的分子量越少，质谱上来自目标低分子化合物的峰与基于基质的峰非常接近，混合存在或者该峰彼此重叠，从而低分子量的分析对象物质的分析上存在限制。

为了克服这种限制，正在进行如日本授权专利第4918662号那样将有机基质替换为无机基质的研究、如国际专利WO2013/008723号那样开发新的基质的研究。但在无机基质的情况下，存在离子化率比有机基质显著降低的限制，即使开发新的基质也依然存在基于基质的噪音峰，在将多种低分子化合物准确灵敏地进行分析方面存在其技术限制。

发明内容

本发明的目的在于，提供能够精密地检测出低分子量化合物的基质辅助激光解吸离子化质量分析方法。

另外，本发明的目的在于，提供不管低分子量化合物的种类如何都能够精密地检测出种类繁多的化合物的基质辅助激光解吸离子化质量分析方法。

另外，本发明的目的在于，提供不受基质噪音(noise)限制而能够得到化合物的完整的质谱的基质辅助激光解吸离子化质量分析方法。

根据本发明的基质辅助激光解吸离子化(Matrix-Assisted Laser DesorptionIonization)质量分析方法包括：使分析对象物质进行基质辅助激光解吸离子化而得到质谱，分别利用两个以上的彼此不同的基质而得到作为分析对象物质的质谱的检测谱的步骤；以及在各个检测谱中去除该基质的峰而获得基质-去除谱后，基于彼此不同的各个基质的基质-去除谱而得到分析对象物质的校正的质谱的步骤。