[发明专利]涂层和陶瓷基复合材料的无损检测方法在审
| 申请号： | 201780067127.7 | 申请日： | 2017-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN109891224A | 公开（公告）日： | 2019-06-14 |
| 发明（设计）人： | R·C·鲍克;G·D·希尔德布兰德;T·F·德克尔;B·R·克罗盖 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N27/02 | 分类号： | G01N27/02;G01N29/34 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 非金属结构 电磁脉冲 陶瓷结构体 无损检测 阻抗变化 陶瓷基复合材料 复合结构体 影响结构 航空器 热防护 陶瓷基 位置处 折射率 评估 阻抗 扫描 陶瓷 体内 敏感 | ||
1.一种无损检测非金属结构体的方法，包括以下步骤：
提供非金属结构体；
用在200GHz至4THz范围内的电磁脉冲扫描结构体；
求出电磁脉冲通过非金属结构体后的数值；
基于求出的电磁脉冲数值确定非金属结构体中的阻抗差异；以及
评估非金属结构体中的阻抗差异。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，提供非金属结构体的步骤还包括提供这样的非金属结构体：其一部分具有两相，所述两相还包括均匀分布在陶瓷系基质内的颗粒。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，提供非金属结构体的步骤中，非金属结构体是陶瓷基复合材料。
4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述陶瓷基复合材料还包括在层之间界面处结合的多层陶瓷材料。
5.根据权利要求4所述的方法，其中，扫描、评估包括多层陶瓷材料的陶瓷基复合材料和层之间界面，确定和评估阻抗差异。
6.根据权利要求2所述的方法，其中，提供其一部分具有两相的非金属结构体的步骤还包括提供均匀分布在基质内、尺寸不大于0.0005英寸(0.5密耳)的颗粒。
7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述非金属结构体包括覆盖金属基底的非导电涂层。
8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述非金属结构体还包括覆盖陶瓷基复合结构体的非导电涂层，所述非导电涂层选自隔热涂层、环境涂层、耐磨涂层及它们的组合。
9.根据权利要求3所述的方法，其中，所述陶瓷基复合材料包括在陶瓷基质中的氧化铝-氧化硼-二氧化硅纤维的织物层。
10.根据权利要求7所述的方法，其中，金属基底是航空器部件。
11.根据权利要求1所述的方法，其中，扫描步骤在0.3-3THz的范围内实现。
12.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括在电磁脉冲通过非金属结构体之后记录该脉冲的步骤。
13.根据权利要求12所述的方法，其中，记录步骤包括打印表示非金属结构体中阻抗差异的脉冲图像。
14.根据权利要求12所述的方法，其中，记录步骤包括存储表示通过非金属结构体后的电磁脉冲的信号。
15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述方法还包括调用存储的表示电磁脉冲的信号、求出电磁脉冲数值和确定非金属结构体中阻抗差异的步骤。
16.根据权利要求1所述的方法，其中，评估阻抗差异的步骤包括建立进行太赫兹测试的非金属结构体的合格与否判定标准，并将确定的阻抗差异与建立的合格与否判定标准进行比较。
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