[发明专利]检测器设备、定位代码和位置检测方法有效
申请号: | 201780067048.6 | 申请日: | 2017-11-02 |
公开(公告)号: | CN109891196B | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
发明(设计)人: | P·玛萨;I·玛萨 | 申请(专利权)人: | 普莱希莱布斯股份有限公司 |
主分类号: | G01D5/347 | 分类号: | G01D5/347;G06K19/06 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 胡利鸣 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测器 设备 定位 代码 位置 检测 方法 | ||
1.一种检测器设备,包括:
像素的二维排列,其包括行像素和列像素并且具有行方向和列方向,所述像素沿所述行方向按多个行对齐并且所述像素沿所述列方向按多个列对齐,每个像素包括:
传感器元件,
输出,其输出与入射在所述传感器元件上的辐射强度相对应的电信号,
读出选择输入,所述像素通过所述读出选择输入来被选择以输出所述电信号,以及
所述传感器元件与所述输出之间的非破坏性读出电路;
用于行像素的每行的行读出布线,所述行像素的行中的每个行像素的输出使用所述行像素的读出选择输入来可选择性地耦合至用于该行像素的行的所述行读出布线,所述行读出布线被配置成传送来自所述行像素中被选择性地耦合至所述行读出布线的每个行像素的电信号之和;
用于行像素的每列的列选择布线,所述列选择布线被耦合至所述行像素的列中的每个行像素的所述读出选择输入;
用于列像素的每列的列读出布线,所述列像素的列中的每个列像素的输出使用所述列像素的读出选择输入来可选择性地耦合至用于该列像素的列的所述列读出布线,所述列读出布线被配置成传送来自所述列像素中被选择性地耦合至所述列读出布线的每个列像素的电信号之和;
用于列像素的每行的行选择布线,所述行选择布线被耦合至所述列像素的行中的每个列像素的所述读出选择输入;
连接至所述列选择布线和所述行选择布线的列和行选择设备,其被配置成同时选择用于行并行读出的行像素的一列或多列、以及用于列并行读出的列像素的一行或多行;
第一多个模数转换器,其被配置成用于行并行操作,所述第一多个模数转换器中的每一者被连接到相应的行读出布线;以及
第二多个模数转换器,其被配置成用于列并行操作,所述第二多个模数转换器中的每一者被连接到相应的列读出布线。
2.如权利要求1所述的检测器设备,其特征在于,所述像素的二维排列具有两个对角方向,所述像素沿所述对角方向按对角对齐,并且所述行像素和列像素沿所述对角方向被交替地排列,并且每个对角方向与所述行方向、所述列方向、以及另一个对角方向相交。
3.如权利要求2所述的检测器设备,其特征在于,所述像素具有类似菱形的形状,所述形状具有与所述两个对角方向平行的侧边,并且所述像素以小于所述类似菱形的形状的所述侧边的长度的间隔来排列。
4.如权利要求1所述的检测器设备,其特征在于,所述非破坏性读出电路包括跨导单元,所述跨导单元的输入连接至所述传感器元件,并且所述跨导单元提供所述像素的输出。
5.如权利要求1所述的检测器设备,其特征在于,每个读出选择输入由MOSFET的栅极端子来提供,耦合至所述读出选择输入的相应的像素行或列中的每个像素的输出被耦合到所述MOSFET的源极,并且所述MOSFET的漏极被耦合到相应的行读出布线或列读出布线。
6.如权利要求1所述的检测器设备,其特征在于,所述列和行选择设备是可编程地址发生器和定序器单元。
7.如权利要求1所述的检测器设备,其特征在于,所述列和行选择设备包括可写寄存器,并且写入所述寄存器的数据比特确定该寄存器所选择的行或列。
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