[发明专利]用于检查感应负载的控制电路的方法和装置

说明书

本发明涉及一种用于检查感应负载的控制电路的方法，其中，测量和评估一个或两个电流。本发明还涉及一种用于执行这种方法的装置。

本发明涉及一种用于检查感应负载的控制电路的方法，并且涉及一种具有这种控制电路和感应负载的装置，其中，所述装置被配置用于执行这种方法。

图1通过举例的方式示出了感应负载10和相关联的控制电路15。控制电路15被设计成以限定方式向感应负载10供应电流。

在当前情况下，感应负载10被设计成线圈。在这种情况下，例如，所述感应负载可以是继电器的线圈。流经所述线圈的电流由I_线圈表示。

控制电路15具有再循环晶体管20和驱动器晶体管30。再循环晶体管20和驱动器晶体管30彼此串联连接。在这种情况下，再循环晶体管20关于图1的上极或第一极连接到供电连接件REFx。驱动器晶体管30的下极或第二极连接到地。感应负载10连接在供电连接件REFx与再循环晶体管20和驱动器晶体管30之间的电势之间。

施加到供电连接件REFx的供电电压V_REFx定义了高电势，所述高电势也可以被称为HSx。两个晶体管20、30之间的电势由VOx表示。

再循环电流I_冗余流经再循环晶体管20。驱动器电流I_感测流经驱动器晶体管30。因为这两个晶体管20、30是感测FET，或者这类感测FET与晶体管20、30并联连接，所以可以以未更详细描述的方式来测量这两个电流I_冗余、I_感测。

图1中示出的装置可以具体用于使用脉宽调制来致动感应负载10。

脉宽调制周期T_PWM＝1/f_PWM通常被规定用于脉宽调制致动，其中，f_PWM是频率。脉宽调制周期可以分成持续时间t_导通＝占空比×T_PWM的导通阶段。在这种情况下，还假定被称为占空比的占空因数。此时，上升线圈电流从供电连接件REFx穿过感应负载10和导通的驱动器晶体管30朝向地流动。然后，这种导通阶段通常与持续时间t_关断＝(1-占空比)×T_PWM的关断阶段相交替。此时，下降线圈电流流经感应负载10和导通的再循环晶体管20。

将在下文中更详细地解决电流测量。

例如，可以执行点测量，也就是说，例如在t_导通/2时在驱动器晶体管30处执行点测量，以及在t_关断/2时跨再循环晶体管20执行点测量。

还可以在导通阶段期间跨驱动器晶体管30测量电流，并且在关断阶段期间跨再循环晶体管20测量电流，并且可以相应地对电流求平均。为此，例如可以使用Δ-∑调制器。

对I_感测的电流测量可以如已经提及的那样执行，例如借助于与驱动器晶体管30并联的感测FET。所述电流测量可以例如仅在导通阶段期间(在t_导通期间)是可能的。对I_冗余的电流测量可以如已经提及的那样执行，例如借助于与再循环晶体管20并联的感测FET。所述电流测量可以例如仅在关断阶段或再循环阶段是可能的。

如果阀级或者感应负载10完全断开连接，则可以关断再循环晶体管20；然后，再循环电流I_冗余可以经由相应的体二极管流动。在此操作状态下，对I_冗余的精确电流测量通常不可能。使用高钳位电压尽可能快速地减小线圈电流也是有利且常用的做法。这可以借助于驱动器晶体管30两端的齐纳(Zener)钳位来执行。然后，没有电流流经再循环晶体管20；对I_冗余的电流测量通常不可能。