[发明专利]磷酸钙烧结体粒子及其制造方法在审
| 申请号： | 201780066421.6 | 申请日： | 2017-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN109890779A | 公开（公告）日： | 2019-06-14 |
| 发明（设计）人： | 小粥康充;青井信雄;能美大辅;河边卡尔和重 | 申请（专利权）人： | 株式会社索夫塞拉 |
| 主分类号： | C04B35/447 | 分类号： | C04B35/447;A61K6/033;A61L27/32;A61M37/00;C01B25/32 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 曹阳 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 陶瓷粒子 磷酸钙烧结体 粒子 使用方式 碳酸钙 粒子组 小粒径 粒径 制造 | ||
1.一种陶瓷粒子组，其特征在于，其为包含陶瓷粒子的陶瓷粒子组，
所述陶瓷粒子的粒径在10nm～700nm的范围内，
所述陶瓷粒子为磷酸钙烧结体粒子，
所述陶瓷粒子不含碳酸钙，
所述陶瓷粒子利用X射线衍射法测定的d＝2.814处的半峰宽在0.2～0.8的范围内。
2.根据权利要求1所述的陶瓷粒子组，其特征在于，所述陶瓷粒子满足下述性质(A)：
(A)充分干燥后，在常压下、温度25℃、湿度50％的条件下放置3天以上后，用热重差热分析装置TG－DTA在氮气流下、10℃/分钟的条件下进行测定，在25℃～200℃的温度范围内减少的重量为2％以下，所述热重差热分析装置是精工仪器公司制的EXSTAR6000。
3.一种陶瓷粒子组，其特征在于，其为包含陶瓷粒子的陶瓷粒子组，
所述陶瓷粒子的粒径在10nm～700nm的范围内，
所述陶瓷粒子为磷酸钙烧结体粒子，
所述陶瓷粒子不含碳酸钙，
所述陶瓷粒子满足下述性质(A)：
(A)充分干燥后，在常压下、温度25℃、湿度50％的条件下放置3天以上后，用热重差热分析装置TG－DTA在氮气流下、10℃/分钟的条件下进行测定，在25℃～200℃的温度范围内减少的重量为2％以下，所述热重差热分析装置是精工仪器公司制的EXSTAR6000。
4.根据权利要求1～3中任一项所述的陶瓷粒子组，其中，所述陶瓷粒子至少在其表面包含碳酸磷灰石。
5.一种陶瓷粒子组，其特征在于，其为包含陶瓷粒子的陶瓷粒子组，
所述陶瓷粒子的粒径在10nm～700nm的范围内，
所述陶瓷粒子为磷酸钙烧结体粒子，
所述陶瓷粒子不含碳酸钙，
所述陶瓷粒子包含B型碳酸磷灰石。
6.根据权利要求5所述的陶瓷粒子组，其特征在于，所述陶瓷粒子利用X射线衍射法测定的d＝2.814处的半峰宽在0.2～0.8的范围内。
7.根据权利要求5或6所述的陶瓷粒子组，其特征在于，所述陶瓷粒子满足下述性质(A)：
(A)充分干燥后，在常压下、温度25℃、湿度50％的条件下放置3天以上后，用热重差热分析装置TG－DTA在氮气流下、10℃/分钟的条件下进行测定，在25℃～200℃的温度范围内减少的重量为2％以下，所述热重差热分析装置是精工仪器公司制的EXSTAR6000。
8.根据权利要求1～7中任一项所述的陶瓷粒子组，其中，所述陶瓷粒子为球状。
9.根据权利要求1～8中任一项所述的陶瓷粒子组，其特征在于，其为包含陶瓷粒子的陶瓷粒子组，
关于所述陶瓷粒子的粒径，短轴的最大直径为30nm～5μm，长轴为75nm～10μm，沿着c轴方向生长，晶体的纵横比即c轴长/a轴长为1～30。
10.根据权利要求1～9中任一项所述的陶瓷粒子组，其中，所述陶瓷粒子为羟基磷灰石烧结体粒子。
11.根据权利要求1～10中任一项所述的陶瓷粒子组，其中，所述陶瓷粒子不含碱金属元素。
12.一种医用材料，其使用权利要求1～11中任一项所述的陶瓷粒子组而得到。
13.一种医疗器械，其将权利要求12所述的医用材料作为一种材料而得到。
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