[发明专利]对磁共振指纹期间的B0偏共振场的直接测量

权利要求书

1.一种用于从成像区（108）内的对象（118）采集磁共振数据（146）的磁共振成像系统（100），其中，所述磁共振成像系统包括：

- 梯度磁场生成系统（110、112），其被配置用于在所述成像区内生成梯度磁场；

- 射频系统（114、116），其被配置用于采集所述磁共振数据；

- 存储器（134），其用于存储机器可执行指令（140）和脉冲序列命令（142），其中，所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统根据磁共振指纹协议来采集所述磁共振数据，其中，所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统在多个脉冲重复（302）期间采集所述磁共振数据，其中，所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统在所述多个脉冲重复中的每个期间使用所述梯度磁场生成系统引起梯度诱导的自旋重定相至少两次，其中，所述脉冲序列命令被配置用于控制所述磁共振成像系统在所述多个脉冲重复中的每个期间采集至少两个磁共振信号，其中，所述至少两个磁共振信号中的每个在所述梯度诱导的自旋重定相中的单独一个期间被测量；其中，所述磁共振数据包括在所述多个脉冲重复中的每个期间采集的所述至少两个磁共振信号；

- 处理器（130），其用于控制所述磁共振成像系统，其中，对所述机器可执行指令的运行使所述处理器：

- 利用所述脉冲序列命令控制（200）所述磁共振成像系统来采集所述磁共振数据；并且

- 使用所述磁共振数据来计算（202）B0偏共振图（158），其中，所述B0偏共振图描述当所述对象在所述成像区内时所述磁共振成像系统的B0偏共振磁场，其中，所述B0偏共振图至少部分地使用在单个脉冲重复期间测量的至少两个磁共振信号来计算；

- 通过将所述磁共振数据与磁共振指纹词典（152）进行比较来生成（204）至少一个磁共振参数图；

-使用成分匹配来计算至少一个磁共振参数图，其中，所述成分匹配至少部分地通过利用化学位移数据（160）加权所述磁共振指纹词典的至少一部分来执行，其中，所述化学位移数据至少部分地使用所述B0偏共振图来计算。

2.根据权利要求1所述的磁共振成像系统，其中，所述B0偏共振图至少部分地使用在单个脉冲重复期间测量的所述至少两个磁共振信号中的两个磁共振信号的复数点积来计算。

3.根据权利要求1或2所述的磁共振成像系统，其中，对所述机器可执行指令的运行使所述处理器至少部分地使用所述B0偏共振图来计算定量磁化率图。

4.根据权利要求3所述的磁共振成像系统，其中，所述定量磁化率图至少部分地通过求解描述所述对象的磁化率的逆问题来计算。

5.根据权利要求1-2中的任一项所述的磁共振成像系统，其中，对所述机器可执行指令的运行还使所述处理器使用所述磁共振数据来计算RF发射/接收相位图，其中，所述RF发射/接收相位图描述空间依赖的RF发射/接收相位。

6.根据权利要求5所述的磁共振成像系统，其中，对所述指令的运行还使所述处理器至少部分地使用所述RF发射/接收相位图来计算磁共振电性质断层摄影数据。

7.根据权利要求6所述的磁共振成像系统，其中，所述磁共振指纹词典至少部分地是发射B1磁场幅值的函数，其中，所述至少一个磁共振参数图包括发射B1磁场幅值图，其中，所述磁共振电性质断层摄影数据至少部分地使用所述发射B1磁场幅值图来计算。

8.根据权利要求1-2中的任一项所述的磁共振成像系统，其中，对所述机器可执行指令的运行还使所述处理器至少部分地使用在单个脉冲重复期间测量的所述至少两个磁共振信号来计算直接T2-星图。

9.根据权利要求8所述的磁共振成像系统，其中，所述磁共振指纹词典至少部分地是T2的函数，其中，所述至少一个磁共振参数图包括T2图，并且其中，对所述机器可执行指令的运行还使所述处理器根据所述T2图和所述直接T2-星图来至少部分地计算T2-原始图。