[发明专利]用于检查系统的同轴和漫射照明

说明书

描述了一种检查系统。该检查系统包括相机和壳体。该壳体容纳反射罩。该反射罩包括顶点和视口。该视口从顶点偏移。相机被安装以捕获通过视口离开该反射罩的光。并且，多个光源绕着该反射罩布置，使得从多个光源输出的光进入该罩。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2017年10月6日提出的美国专利申请第15/727,215号的权益，该美国专利申请要求于2016年10月7日提出的美国临时专利申请第62/405,549号的优先权，这些专利文献的每篇的全部内容通过引用并入本文。

技术领域

本发明的实施例总体上涉及检查系统。本发明的实施例尤其涉及用于检查系统的照明。

背景技术

基于相机的检查系统已经用于使小型和/或大量制造部件的检查自动化，或者用于增强小型和/或大量制造部件的人工检查。例如，与在没有这种系统的情况下人工所能实现的相比，基于相机的检查系统能够以更快的速度和/或对于非常小的部件识别出不合格项，诸如制造误差或污染。这些系统需要足够的分辨率来识别被检查部件中的不合格项。若干因素影响基于相机的检查系统以其操作的分辨率。这些因素包括相机的质量、正被检查的部件的性质，以及对部件的照明。在某些应用中，对部件的照明是必要的。仍然存在对增强的基于相机的检查系统的持续需求。

发明内容

描述了一种检查系统。该检查系统包括相机和壳体。该壳体容纳反射罩。该反射罩包括顶点和视口。该视口从顶点偏移。相机被安装以捕获通过视口离开该反射罩的光。并且，多个光源绕着该反射罩布置，使得从多个光源输出的光进入该罩。

本发明实施例的其它特征和优点将从附图和以下的详细说明显而易见。

附图说明

在附图的各图中通过举例而非限制的方式示出了本发明的实施例，个图中类似的附图标记表示类似的元件。

图1是根据实施例的检查系统的透视图。

图2是根据实施例的检查系统的另一透视图。

图3是根据实施例的检查系统的照明壳体的详细透视图。

图4是图3实施例的沿着线AA的横截面视图。

图5是图3实施例的沿着线BB的横截面视图。

图6是图3实施例的沿着线AA的详细横截面视图。

图7是图3实施例的沿着线AA的另一详细横截面视图。

图8是图3实施例的沿着线AA但从相对于图4的横截面视图的不同角度的横截面视图。

图9是图3实施例的沿着线AA但从相对于图4的横截面视图的不同角度的横截面视图。

具体实施方式

本文进一步介绍了与基于相机的检查系统相关的照明部件的诸多方面。基于相机的检查系统可以利用两种类型的照明来照亮被检查的部件。第一种类型的照明是同轴照明。在同轴照明中使用的光通常是单一、窄而强的光束。光束的路径可以被正被检查的部件反射，随后直接进入相机。在某些应用中，所述光束的所有光子基本上都沿着平行的路径传播。由于光束的方向一致性，同轴照明会在由具有不规则轮廓(例如，包含隆起、边缘、断片、折叠、折痕等)的表面反射时留下阴影。同轴照明对于评估表面的斜率或结构特征尤其有用。

第二种类型的照明是漫射照明，其中光从多个方向或角度产生。由角距上接近半球(2π球面度)的光源提供的漫射照明也被称为“阴天”照明。在漫射照明中使用的光沿着许多不同并且通常不可预测的路径传播。与同轴照明相比，漫射照明单位面积的强度更低。因此，漫射照明在需要高通量的应用中可能不太有效。由于漫射照明中光的方向变化，漫射照明可以消除许多(即使不是全部)由表面结构导致的阴影。虽然漫射照明在查看曲面时具有很多优点，但是漫射照明会沿着相机的轴线留下盲点。