[发明专利]光调制器以及光调制器的控制方法有效
申请号: | 201780057766.5 | 申请日: | 2017-05-18 |
公开(公告)号: | CN109716679B | 公开(公告)日: | 2022-03-08 |
发明(设计)人: | 林周作;榎健太郎;秋山浩一 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H04B10/516 | 分类号: | H04B10/516;G02F1/015;G02F1/025 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 许海兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 调制器 以及 控制 方法 | ||
1.一种光调制器,具备:
数据生成部,生成具有第一数据流以及第二数据流的第一数据流群组和具有第三数据流以及第四数据流的第二数据流群组;
定时调整部,根据定时设定将所述第一数据流群组和所述第二数据流群组之间的定时进行移位;
至少一个分路部,将输入的光分割为第一光、第二光、第三光和第四光;
第一光调制部,基于所述第一数据流来调制所述第一光;
第二光调制部,基于所述第二数据流来调制所述第二光;
第一相位调整部,根据第一相位差设定将来自所述第一光调制部的光和来自所述第二光调制部的光之间的相位差进行移位;
第一光合成部,将来自所述第一光调制部的光和经由了所述第一相位调整部的来自所述第二光调制部的光合成;
第三光调制部,基于所述第三数据流来调制所述第三光;
第四光调制部,基于所述第四数据流来调制所述第四光;
第二相位调整部,根据第二相位差设定将来自所述第三光调制部的光和来自所述第四光调制部的光之间的相位差进行移位;
第二光合成部,将来自所述第三光调制部的光和经由了所述第二相位调整部的来自所述第四光调制部的光合成;
偏振波旋转部,对来自所述第二光合成部的光进行90°的偏振旋转;
偏振波合成部,将作为相互正交的两个偏振波的来自所述第一光合成部的光和经由了所述偏振波旋转部的来自所述第二光合成部的光合成;
峰值检波电路,通过对来自所述偏振波合成部的光的强度进行峰值检波来输出检测值;以及
控制部,具有用于调整所述定时调整部的所述定时设定的调整模式,
所述数据生成部具有第一测试模式,
在所述第一测试模式下,所述数据生成部生成将2N位的标记和2N位的空白重复的第一测试数据流作为所述第一数据流和所述第三数据流的各个数据流,且生成相对于所述第一测试数据流移位了N位后的第二测试数据流作为所述第二数据流和所述第四数据流的各个数据流,设N为自然数,
所述定时调整部具有设定模式,在该设定模式下,以使来自所述峰值检波电路的所述检测值最大化的方式调整所述定时设定,
所述控制部在所述调整模式下以使所述第一相位差设定以及所述第二相位差设定变为零的方式控制所述第一相位调整部以及所述第二相位调整部,且将所述数据生成部至少暂时性设为所述第一测试模式,且将所述定时调整部设为所述设定模式。
2.根据权利要求1所述的光调制器,其中,
在所述数据生成部的所述第一测试模式下,N为2以上。
3.根据权利要求2所述的光调制器,其中,
所述数据生成部具有第二测试模式,
在所述第二测试模式下,所述数据生成部生成将2位的标记和2位的空白重复的第三测试数据流作为所述第一数据流和所述第三数据流的各个数据流,且生成将2位的标记和2位的空白重复且相对于所述第三测试数据流移位了1位后的第四测试数据流作为所述第二数据流和所述第四数据流的各个数据流,
所述控制部在所述调整模式下在将所述数据生成部设为所述第一测试模式之后设为所述第二测试模式。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三菱电机株式会社,未经三菱电机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201780057766.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。