[发明专利]低成本且非矩形触摸传感器矩阵的均匀性校正方法在审
| 申请号: | 201780056937.2 | 申请日: | 2017-09-22 |
| 公开(公告)号: | CN109716272A | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
| 发明(设计)人: | 安德理·亚欧旭;延斯·韦伯 | 申请(专利权)人: | 赛普拉斯半导体公司 |
| 主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
| 代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 陆建萍;杨明钊 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 校正矩阵 存储器 多个单位 非矩形 触摸感测 处理元件 触摸 子集 存储 矩阵 触摸传感器 均匀性校正 单位单元 方法描述 非活动区 感测设备 低成本 活动区 耦合到 与非 测量 | ||
1.一种感测设备,包括:
存储器,其存储:
与非矩形触摸阵列的多个单位单元中的至少一个单位单元的测量特征相对应的一组触摸感测值;以及
校正矩阵,所述校正矩阵限定所述非矩形触摸阵列的活动区和非活动区;以及
耦合到所述存储器的处理元件,所述处理元件修改所述多个单位单元的子集的触摸感测值,其中所述多个单位单元的所述子集没有完全在由所述校正矩阵的校正值限定的所述活动区内。
2.根据权利要求1所述的感测设备,其中:
所述非矩形触摸阵列包括多个行感测元件和多个列感测元件;
所述多个行感测元件中的每一个行感测元件设置在与第一轴平行的相应的行轴的附近;
所述多个列感测元件中的每一个列感测元件设置在与第二轴平行的相应的列轴的附近;
所述多个单位单元中的每一个单位单元由所述多个行感测元件中的相应的行感测元件和所述多个列感测元件中的相应列感测元件的相交所限定;
所述活动区由所述多个行感测元件和所述多个列感测元件限定;以及
所述非矩形触摸阵列的活动区的一个或更多个边缘与所述第一轴和所述第二轴不平行。
3.根据权利要求1所述的感测设备,其中,所述感测设备是电容感测设备,并且所述非矩形触摸阵列是电容传感器阵列。
4.根据权利要求1所述的感测设备,其中,所述感测设备是电阻感测设备,并且所述非矩形触摸阵列是电阻传感器阵列。
5.根据权利要求1所述的感测设备,其中,所述感测设备是红外感测设备,并且所述非矩形触摸阵列是红外传感器阵列。
6.根据权利要求1所述的感测设备,其中,所述感测设备是光学感测设备,并且所述非矩形触摸阵列是光学传感器阵列。
7.根据权利要求1所述的感测设备,其中,所述感测设备是声感测设备,并且所述非矩形触摸阵列是声传感器阵列。
8.根据权利要求1所述的感测设备,其中,所述非矩形触摸阵列包括从所述非矩形触摸阵列的上表面到所述非矩形触摸阵列的下表面的一个或更多个开口。
9.根据权利要求1所述的感测设备,其中,所述校正值包括单位增益校正值、掩码校正值或非单位增益校正值中的至少一个。
10.根据权利要求9所述的感测设备,其中,所述校正矩阵限定边缘区域,其中,所述处理元件用于以下中的至少一项:通过所述单位增益校正值提供用于所述活动区的单位增益功能、通过所述掩码校正值提供用于所述非活动区的掩码功能或者通过所述非单位增益校正值提供用于所述边缘区域的增益功能。
11.一种方法,包括:
存储与非矩形触摸阵列的多个单位单元中的至少一个单位单元的测量特征相对应的一组触摸感测值;以及
访问限定所述非矩形触摸阵列的活动区和非活动区的校正矩阵;以及
修改所述多个单位单元的第一子集的触摸感测值,所述多个单位单元的所述第一子集部分地在由所述校正矩阵的校正值限定的所述活动区内。
12.根据权利要求11所述的方法,还包括:
检测与所述非矩形触摸阵列的所述多个单位单元相对应的测试值;
基于所述测试值,确定所述多个单位单元的部分地在所述活动区内的所述第一子集和所述多个单位单元的完全在所述活动区内的第二子集;以及
基于所述测试值、所述多个单位单元的所述第一子集和所述多个单位单元的所述第二子集,生成所述校正矩阵。
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