[发明专利]偏析分析装置和方法

权利要求书

1.一种偏析分析装置，其包含：

图像获取单元，用于获取对模制试样的拍摄图像，所述模制试样包含多个试样；

试样图像提取单元，用于从所述拍摄图像中分别提取对所述多个试样的多个试样图像；以及

偏析信息生成单元，用于在多个试样图像的各试样图像中将中心区域的周边区域设定为参考区域，通过利用所述参考区域的平均亮度对所述中心区域进行可变二值化从多个试样图像的各试样图像中检测出偏析区域，并将所述偏析区域数字化，以生成偏析分析信息。

2.根据权利要求1所述的偏析分析装置，其中，

所述图像获取单元包含：

摄像机；以及

照明装置，其包含多个光源元件，并具有对应于所述摄像机的镜头形状的中空部。

3.根据权利要求1所述的偏析分析装置，其中，

所述试样图像提取单元包含：

匹配器，用于对模板图像和所述拍摄图像进行相关系数匹配；

二值化器，用于对所述匹配器的输出进行二值化；以及

图像提取器，用于基于所述二值化器的输出从所述拍摄图像提取所述多个试样图像。

4.根据权利要求1所述的偏析分析装置，其中，

所述偏析信息生成单元包含：

可变二值化器，用于将试样图像中中心区域的周边区域设定为参考区域，并利用所述参考区域的平均亮度对所述中心区域进行可变二值化；以及

偏析区域确定器，用于将可变二值化后的所述参考区域的像素值直方图在预设阈值以下的区域确定为所述偏析区域。

5.根据权利要求1所述的偏析分析装置，其中，

所述偏析信息生成单元还包含：

信息生成器，用于计算出所述偏析区域的大小、长度、亮度信息、角度、偏析量及偏析比例中的至少一个，以生成所述偏析分析信息。

6.一种偏析分析方法，其包含以下步骤：

获取对模制试样的拍摄图像，其中模制试样包含多个试样；

从所述拍摄图像中分别提取对所述多个试样的多个试样图像；以及

在多个试样图像的各试样图像中将中心区域的周边区域设定为参考区域，通过利用所述参考区域的平均亮度对所述中心区域进行可变二值化从多个试样图像的各试样图像中检测出偏析区域，并将所述偏析区域数字化，以生成偏析分析信息。

7.根据权利要求6所述偏析分析方法，其中，

所述获取拍摄图像的步骤包含以下步骤：

照射横轴的光均匀度和纵轴的光均匀度为96％以上且所述横轴的光均匀度和所述纵轴的光均匀度之差为2％以内的光线。

8.根据权利要求6所述偏析分析方法，其中，

所述提取多个试样图像的步骤包含以下步骤：

对模板图像和所述拍摄图像进行相关系数匹配；

对相关系数匹配结果进行二值化；

基于所述二值化结果从所述拍摄图像提取所述多个试样图像。

9.根据权利要求6所述偏析分析方法，其中，

所述生成偏析分析信息的步骤包含以下步骤：

将试样图像中中心区域的周边区域设定为参考区域；

利用所述参考区域的平均亮度对所述中心区域进行可变二值化；以及

相对于可变二值化的结果，将可变二值化后的所述参考区域的像素值直方图在预设阈值以下的区域确定为所述偏析区域。

10.根据权利要求6所述偏析分析方法，其中，

所述生成偏析分析信息的步骤包含以下步骤：

计算出所述偏析区域的大小、长度、亮度信息、角度、偏析量及偏析比例中的至少一个，以生成所述偏析分析信息。