[发明专利]在现场图像捕捉期间的欺骗攻击检测

权利要求书

1.一种计算机实现的方法，所述方法包括：

由成像设备检测待成像对象的存在；

由成像设备测量成像设备和待成像对象之间的距离；

由计算设备使用所测量的距离和成像设备的至少一个特征来确定待成像对象的特性；

由计算设备确定对象的特性是否超过阈值；以及

由计算设备指示待成像设备是否是欺骗对象和实际对象中的一个。

2.根据权利要求1所述的方法，其中待成像对象的所确定特性是对象的大小。

3.根据权利要求1所述的方法，其中成像设备的至少一个特征包括以下中的一个：

成像设备的透镜的焦距，

成像设备的成像传感器的大小，

成像传感器的图像像素分辨率，以及

以像素为单位的图像的对象大小。

4.根据权利要求3所述的方法，其中确定待成像对象的特性包括使用由成像设备检测到的图像的宽度和成像传感器的宽度。

5.根据权利要求4所述的方法，其中待成像对象是人类脸部，并且基于人类脸部的第一瞳孔和人类脸部的第二瞳孔之间的距离来测量成像设备和对象之间的距离。

6.根据权利要求5所述的方法，其中人类脸部的第一瞳孔和人类脸部的第二瞳孔之间的距离是与成像设备检测到的图像相关联的以像素为单位的距离。

7.一种计算机实现的方法，包括：

由成像设备检测待成像对象的存在；

由成像设备确定待成像对象的第一特性；

由成像设备确定待成像对象的第二特性；

由计算设备确定参数值是否超过阈值参数值，其中参数值指示第一特性或者第二特性；以及

响应于确定参数值是否超过阈值参数值，由计算设备指示待成像对象是欺骗对象或实际对象中的一个。

8.根据权利要求7所述的方法，其中参数值指示以下中的至少一个：

与针对待成像对象的图像数据相关联的像素数据的至少一个子集的特性；或

针对待成像对象的图像数据的至少一个图像区域的颜色属性。

9.根据权利要求8所述的方法，其中确定参数值是否超过阈值参数值包括：

分析像素数据以确定一个或多个像素是否过饱和；

响应于确定一个或多个像素是否过饱和，计算确定为过饱和的像素的百分比；以及

基于确定为过饱和的像素的百分比来确定像素饱和度的量值。

10.根据权利要求8所述的方法，其中过饱和像素的较高百分比指示待成像对象是用于显示欺骗图像的电子设备的较高概率。

11.根据权利要求7所述的方法，其中待成像对象的第一特性是对象的眩光属性、对象的反射属性、或者眩光属性及反射属性。

12.根据权利要求8所述的方法，其中对象是具有显示屏的电子设备，电子设备包括与对象的眩光属性、对象的反射属性或对象的边框相关联的可检测特质。

13.根据权利要求7所述的方法，其中待成像对象的第二特性是对象的边缘属性、描绘对象的图像的背景属性、或者对象的边缘属性及描绘对象的图像的背景属性。