[发明专利]透镜装置、摄像装置、透镜装置的散焦校正方法有效
申请号: | 201780053382.6 | 申请日: | 2017-04-28 |
公开(公告)号: | CN109643005B | 公开(公告)日: | 2020-12-22 |
发明(设计)人: | 和田哲 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | G02B7/02 | 分类号: | G02B7/02 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 安香子 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 透镜 装置 摄像 散焦 校正 方法 | ||
1.一种透镜装置,其具备:
摄像光学系统,包含多个透镜;
镜筒,容纳所述摄像光学系统;
第1温度传感器,设置于所述镜筒的外部,检测所述镜筒的温度;
第2温度传感器,设置于所述镜筒的外部,将以下部件作为检测对象部件而检测该检测对象部件的温度,所述部件是设置于所述镜筒的外部、并且表示相对于时间变化的温度变化的温度特性与所述多个透镜中包含的特定透镜的温度特性接近的部件;
存储介质,存储将通过所述第1温度传感器和所述第2温度传感器检测出的2个温度信息的差值与以所述2个温度信息中的任一个为基准时的所述特定透镜的温度信息的相对值建立对应的数据;及
焦点校正部,计算通过所述第1温度传感器与所述第2温度传感器分别检测出的2个温度信息的差值,根据该差值和存储在所述存储介质中的数据,推断所述特定透镜的温度信息,并根据所推断的所述温度信息控制所述多个透镜中包含的校正用透镜,从而对所述摄像光学系统的散焦进行校正。
2.根据权利要求1所述的透镜装置,其中,
所述检测对象部件的质量及比热与所述特定透镜大致相同。
3.根据权利要求1或2所述的透镜装置,其中,
所述检测对象部件与所述镜筒的外周面接触,
所述特定透镜与所述镜筒的接触面积和所述部件与所述镜筒的接触面积大致相同。
4.根据权利要求1或2所述的透镜装置,其中,
所述检测对象部件通过所述镜筒支承为沿所述摄像光学系统的光轴方向移动自如,
所述特定透镜能够沿所述光轴方向移动。
5.根据权利要求4所述的透镜装置,其中,
所述检测对象部件用于在所述摄像光学系统中包含的透镜组沿一方向移动的状态下向所述一方向的反方向移动来防止所述透镜组的重心的振动。
6.一种摄像装置,其具备:
权利要求1至5中任一项所述的透镜装置;及
通过所述摄像光学系统拍摄被摄体的成像元件。
7.一种透镜装置的散焦校正方法,所述透镜装置具有包含多个透镜的摄像光学系统及容纳所述摄像光学系统的镜筒,
所述散焦校正方法具备:
温度差检测步骤,通过设置于所述镜筒的外部的第1温度传感器检测所述镜筒的温度,并且通过设置于所述镜筒的外部的第2温度传感器检测检测对象部件的温度,并计算通过所述第1温度传感器和所述第2温度传感器检测出的2个温度信息的差值,所述检测对象部件是设置于所述镜筒的外部、并且表示相对于时间变化的温度变化的温度特性与所述多个透镜中包含的特定透镜的温度特性接近的部件;及
焦点校正步骤,根据从存储介质读出的数据和通过所述温度差检测步骤计算出的温度信息的差值,推断所述特定透镜的温度信息,并根据所推断的所述温度信息控制所述多个透镜中包含的校正用透镜,从而对所述摄像光学系统的散焦进行校正,所述存储介质存储将通过所述第1温度传感器和所述第2温度传感器检测出的2个温度信息的差值与以所述2个温度信息中的任一个为基准时的所述特定透镜的温度信息的相对值建立对应的数据。
8.根据权利要求7所述的透镜装置的散焦校正方法,其中,
所述检测对象部件的质量及比热与所述特定透镜大致相同。
9.根据权利要求7或8所述的透镜装置的散焦校正方法,其中,
所述检测对象部件与所述镜筒的外周面接触,
所述特定透镜与所述镜筒的接触面积和所述检测对象部件与所述镜筒的接触面积大致相同。
10.根据权利要求7或8所述的透镜装置的散焦校正方法,其中,
所述检测对象部件通过所述镜筒支承为沿所述摄像光学系统的光轴方向移动自如,
所述特定透镜能够沿所述光轴方向移动。
11.根据权利要求10所述的透镜装置的散焦校正方法,其中,
所述检测对象部件用于在所述摄像光学系统中包含的透镜组沿一方向移动的状态下向所述一方向的反方向移动来防止所述透镜组的重心的振动。
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