[发明专利]用于在光线追踪架构内对多个连续光线-表面相交点进行正确排序和枚举的方法和设备在审
| 申请号: | 201780053220.2 | 申请日: | 2017-08-21 |
| 公开(公告)号: | CN109643461A | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
| 发明(设计)人: | I·沃德 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
| 主分类号: | G06T15/06 | 分类号: | G06T15/06;G06T1/20 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 李炜;黄嵩泉 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 相交点 光线追踪 距离测试 命中 标识符 图形处理设备 方法和设备 连续光线 遍历 枚举 消歧 排序 相交 架构 共享 分配 | ||
1.一种图形处理设备,包括:
光线追踪遍历/相交单元,用于标识两个或更多个光线-表面相交点,光线-表面相交点中的每一个被分配唯一命中点标识符(ID);以及
距离测试模块,用于如果光线-表面相交点中的所述两个或更多个光线-表面相交点共享相同距离则使用所述命中点ID来对光线-表面相交点进行消歧。
2.如权利要求1所述的图形处理设备,其中,所述唯一命中点ID包括唯一地标识表面的图元的图元ID。
3.如权利要求1或2所述的图形处理设备,进一步包括:
所述距离测试模块使用距离和命中点ID的组合来生成光线-表面相交点的绝对顺序。
4.如权利要求1、2或3所述的图形处理设备,进一步包括:所述光线追踪遍历/相交单元使用第一光线-表面相交点执行第一遍历操作,并且将来自所述第一遍历操作的信息传递到使用第二光线-表面相交点的第二遍历操作,所述第二光线-表面相交点具有紧接在所述第一光线-表面相交点之后的相继顺序。
5.如权利要求1、2或4所述的图形处理设备,进一步包括:
包含尚未被遍历的光线-表面相交点的栈或优先级队列;并且
在使用一个光线-表面相交点进行遍历之后,所述距离测试模块从所述栈或优先级队列标识下一个光线-表面相交点以用于下一个遍历操作。
6.如权利要求1、2或5所述的图形处理设备,进一步包括:所述距离测试模块执行遍历,直到当前最接近的光线-表面相交点被确保比所述栈或优先级队列中的任何未被遍历的光线-表面相交点更接近。
7.如权利要求4或6所述的图形处理设备,其中,所述遍历操作包括使用包围盒层级结构(BVH)的节点进行的遍历。
8.如权利要求4、6或7所述的图形处理设备,其中,所述遍历操作包括从后向前遍历,在所述从后向前遍历中,未被遍历的光线-表面相交点基于所述未被遍历的光线-表面相交点到光线原点的距离在第一优先级队列中排序。
9.如权利要求1、2或8所述的图形处理设备,进一步包括:第二优先级队列,用于存储先前被遍历的光线-表面相交点。
10.如权利要求9所述的图形处理设备,进一步包括:
所述距离测试模块用于将来自所述第二优先级队列的先前被遍历的光线-表面相交点与所述第一优先级队列中的一个或多个光线-表面相交点进行比较,并且如果来自所述第二优先级队列的被遍历的光线-表面相交点更接近,则将所述先前被遍历的光线-表面相交点标识为最接近的光线-表面相交点。
11.一种设备,包括:
用于标识两个或更多个光线-表面相交点的装置;
用于为每个光线-表面相交点生成唯一命中点ID的装置;以及
用于如果光线-表面相交点中的两个或更多个光线-表面相交点共享相同距离则使用所述命中点ID来对光线-表面相交点的顺序进行消歧的装置。
12.如权利要求11所述的设备,其中,所述唯一命中点ID包括唯一地标识表面的图元的图元ID。
13.如权利要求11或12所述的设备,进一步包括:
使用距离和命中点ID的组合来生成光线-表面相交点的绝对顺序。
14.如权利要求11、12或13所述的设备,进一步包括:
使用第一光线-表面相交点来进行第一遍历操作;以及
将来自所述第一遍历操作的信息传递到使用第二光线-表面相交点的第二遍历操作,所述第二光线-表面相交点具有紧接在所述第一光线-表面相交点之后的相继顺序。
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