[发明专利]基于力形状确定有效触摸有效
申请号: | 201780051963.6 | 申请日: | 2017-08-25 |
公开(公告)号: | CN109844697B | 公开(公告)日: | 2022-12-23 |
发明(设计)人: | 维克多·德雷克;杰弗里·塔克;汤姆·本特森;马尔钦·洛布劳;加里·斯特林;瞿明;陆景平 | 申请(专利权)人: | 谱瑞科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 陆建萍;杨明钊 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 形状 确定 有效 触摸 | ||
1.一种检测在触摸感测表面上的触摸事件的方法,所述触摸感测表面耦合到包括多个感测电极的电容感测阵列,所述方法包括:
在耦合到所述电容感测阵列和多个力电极的处理设备处:
从所述电容感测阵列的多个感测电极获得多个电容感测信号;
根据所述多个电容感测信号,确定在所述触摸感测表面上的一个或更多个候选触摸;
基于所述一个或更多个候选触摸来确定预期力值矩阵,在所述预期力值矩阵中的每个预期力值对应于所述多个力电极中的相应的电极;
从所述多个力电极获得多个力信号;
根据所述多个力信号,确定由所述一个或更多个候选触摸在所述触摸感测表面上引起的实际力值矩阵,在所述实际力值矩阵中的每个实际力值对应于所述多个力电极中的相应的电极;以及
比较所述实际力值矩阵和所述预期力值矩阵以确定与所述一个或更多个候选触摸中的每一个相关联的力的大小,包括确定所述一个或更多个候选触摸中的每一个是否是有效触摸;
其中,所述预期力值矩阵与所述实际力值矩阵具有根据所述多个力电极确定的相同大小。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述预期力值矩阵包括与施加在所述多个力电极上的力相关联的预期力值的阵列。
3.根据权利要求1所述的方法,其中:
所述预期力值矩阵基于多个力权重因子来组合多个计算出的力值矩阵;
所述多个计算出的力值矩阵中的每一个表示所述一个或更多个候选触摸中的一个;
所述多个计算出的力值矩阵中的每一个与所述多个力权重因子中的一个相关联;以及
每个力权重因子表示与所述一个或更多个候选触摸之一相关联的力的大小。
4.根据权利要求3所述的方法,其中比较所述实际力值矩阵和所述预期力值矩阵还包括:
根据所述实际力值矩阵和所述预期力值矩阵计算误差向量;以及
调整所述多个力权重因子以最小化所述误差向量的大小或将所述误差向量的大小降低到小于误差阈值。
5.根据权利要求3所述的方法,其中所述多个计算出的力值矩阵中的每一个基于校准表来被计算,并且所述校准表包括多个经校准的力值矩阵,每个经校准的力值矩阵表示分布在所述触摸感测表面上的多个预定校准采样点中的相应的一个。
6.根据权利要求5所述的方法,其中所述多个计算出的力值矩阵中的每一个组合所述多个经校准的力值矩阵的子集,所述子集对应于围绕相应候选触摸的预定校准采样点的子集。
7.根据权利要求6所述的方法,其中基于在第一触摸和所述预定校准采样点之间的距离来组合所述多个经校准的力值矩阵的所述子集。
8.根据权利要求3所述的方法,其中第一候选触摸与第一预定校准采样点匹配,并且对应于所述第一候选触摸的计算出的力值矩阵由对应于所述第一预定校准采样点的计算出的力值矩阵表示。
9.根据权利要求1所述的方法,其中分布在所述触摸感测表面上的多个预定校准采样点具有与所述多个力电极的分辨率不同的分辨率。
10.根据权利要求1所述的方法,其中所述一个或更多个候选触摸中的每一个是否是有效触摸的所述确定还包括:
识别所述一个或更多个候选触摸中的被除了触摸事件之外的不需要的因素影响的一个候选触摸,并且确定所述一个或更多个候选触摸中的所述一个候选触摸不是与有效触摸相关联的,其中所述不需要的因素包括下列项中的至少一项:布置在所述触摸感测表面上的水滴、共模噪声以及触笔或导电无源物体的悬停。
11.根据权利要求1所述的方法,其中所述一个或更多个候选触摸包括第一触摸,并且所述一个或更多个候选触摸中的每一个是否是有效触摸的所述确定还包括:
根据在所述预期力值矩阵和所述实际力值矩阵之间的比较,确定所述第一触摸不是有效触摸。
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