[发明专利]图像处理设备和图像处理方法

说明书

偏振成像部分20包括处于多个偏振方向中的每一个上的偏振像素。偏振成像部分20包括偏振器。偏振成像部分20将偏振图像的图像信号输出至图像处理部分30的缺陷检测部分35。在由偏振成像部分生成的目标偏振像素的像素值与由与处于与目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上的周边像素的像素值相对应的偏振特征估计的目标偏振像素的像素值之间的差大于预定允许范围的情况下，缺陷检测部分35确定目标偏振像素为缺陷像素。因此，可以检测生成偏振图像的偏振成像部分中的像素的缺陷。

技术领域

本发明技术涉及允许检测偏振成像装置的缺陷的一种图像处理设备和一种图像处理方法。

背景技术

常规上，由于在电荷耦合装置(CCD)成像装置或互补金属氧化物半导体(CMOS)成像装置中发生像素缺陷，已经执行处理来检测和校正像素缺陷。例如，在专利文献1中，目标像素附近且具有与目标像素相同的颜色的像素用作比较像素。检测绝对差值大于第一阈值的比较像素的数目。每个绝对差值是目标像素与相对应的一个比较像素之间的差。在检测到的比较像素的数目大于第二阈值的情况下，目标像素被确定为缺陷像素。此外，在专利文献2中，在预定像素的信号输出水平与预定像素周边的多个像素中的每一个的信号输出水平之间的差大于缺陷检测阈值的情况下，预定像素被确定为缺陷像素。

[引用列表]

[专利文献]

[专利文献1]

未审查的日本专利2008-067158

[专利文献2]

未审查的日本专利2002-223391

发明内容

[技术问题]

附带地讲，如上所述的缺陷像素确定不考虑偏振成像装置的使用，其中处于不同偏振方向上的偏振器提供于像素单元或多个像素的单元中的入射表面上。

根据前文，本发明技术的一个目标是提供允许偏振成像装置的缺陷检测的一种图像处理设备和一种图像处理方法。

[问题的解决方案]

根据本发明技术的第一方面，一种图像处理设备包括缺陷检测部分，其被配置成使用由偏振成像部分生成的目标偏振像素的像素值和由与处于与目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上的周边像素的像素值相对应的偏振特征估计的目标偏振像素的像素值检测目标偏振像素是否为缺陷像素，偏振成像部分被配置成获得多个偏振方向上的偏振像素。

根据本发明技术，缺陷检测部分由与周边像素的像素值相对应的偏振特征估计目标偏振像素的像素值，所述周边像素处于与由包括偏振器的偏振成像部分生成的目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上。偏振成像部分包括多个偏振方向中的每一个上的偏振像素。在目标偏振像素的像素值与所估计的像素值之间的差在预定允许范围之外的情况下，缺陷检测部分确定目标偏振像素为缺陷像素。

此外，周边像素可以处于与目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上。在周边像素包括处于相同偏振方向上的多个像素的情况下，缺陷检测部分可切换有待从处于相同偏振方向上的多个像素中选择的像素。以此方式，缺陷检测部分可产生用于估计目标偏振像素的像素值的周边像素的多个组合并且针对每个组合估计目标偏振像素的像素值。在目标偏振像素的像素值与所估计的像素值之间的差在预定允许范围之外的组合的比率大于提前设定的预定比率的情况下，目标偏振像素可被确定为缺陷像素。