[发明专利]用于计算机断层扫描的方法和系统在审
| 申请号: | 201780050559.7 | 申请日: | 2017-08-07 |
| 公开(公告)号: | CN109561869A | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
| 发明(设计)人: | 布莱恩·爱德华·内特 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
| 主分类号: | A61B6/02 | 分类号: | A61B6/02;A61B6/03;A61B6/04;A61B6/00 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 杨学春;侯颖媖 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 衰减特性 计算机断层扫描成像系统 计算机断层扫描 自动曝光控制 辐射剂量 扫描期间 系统提供 调制管 螺距 图像 期望 | ||
提供了用于计算机断层扫描成像系统中的自动曝光控制的方法和系统。在一个实施例中,一种方法包括:估计受试者沿某个方向的衰减特性;以及基于所述衰减特性在对所述受试者进行扫描期间改变沿着所述方向的螺距。以这种方式,可以在减少辐射剂量的同时维持期望的图像质量,而无需调制管电流。
技术领域
本文所公开的主题的实施例涉及无创诊断成像,并且更具体地涉及计算机断层扫描成像系统中的自动曝光控制。
背景技术
无创成像技术允许获得患者或对象的内部结构的图像,而无需对患者或对象进行有创手术。具体地,诸如计算机断层扫描(CT)等技术使用诸如x射线透过目标体积的差分传输等各种物理原理来采集图像数据并构建断层扫描图像(例如,人体或其他被成像结构的内部的三维表示)。
现代CT系统包括自动曝光控制(AEC),所述自动曝光控制被配置成设置剂量操作点以实现图像质量与辐射剂量之间的优化性能。通常,自动曝光控制涉及在扫描期间调制施加到x射线源的管电流,以使得在维持期望图像质量的同时递送最低必需的辐射剂量。
然而,一些CT成像模式会阻止管电流调制。例如,对于双能量成像,x射线源在不同的峰值管电压(kVp)之间快速切换,以便分辨被扫描的受试者内的不同材料。由于快速kVp切换,发生器可能不允许调制管电流。此外,对于一些成像场景,管电流调制的物理约束可能使这种方法不足以进行自动曝光控制。
发明内容
在一个实施例中,一种方法包括:估计受试者沿某个方向的衰减特性;以及基于所述衰减特性在对所述受试者进行扫描期间改变沿着所述方向的螺距。以这种方式,可以在减少辐射剂量的同时维持期望的图像质量,而无需调制管电流。应当注意的是,以上简要描述被提供用于以简化形式介绍一系列概念,在具体实施方式中对这些概念进行进一步的说明。其不旨在标识出所要求保护的主题的关键或必要特征,所述主题的范围由具体实施方式之后的权利要求书唯一限定。此外,所要求保护的主题并不限于解决上面所提到的或本公开的任何部分中所提到的任何缺点的实施方式。
附图说明
通过参照附图阅读以下非限制性实施例的说明将更好地理解本发明,在以下附图中:
图1示出了根据本发明的实施例的成像系统的立体视图;
图2示出了根据本发明的实施例的示例性成像系统的示意性框图;
图3示出了曲线图,展示了用于控制图像噪声的示例基于衰减的管电流调制;
图4示出了曲线图,展示了根据本发明实施例的用于控制图像噪声的示例基于衰减的间距调制;
图5示出了高级流程图,展示了根据本发明实施例的用于自动曝光控制的示例方法;
图6示出了曲线图,展示了根据本发明的实施例的示例衰减图;
图7示出了曲线图,展示了根据本发明的实施例的示例间距分布曲线;
图8示出了曲线图,展示了根据本发明的实施例的示例受约束的间距分布曲线;
图9示出了高级流程图,展示了根据本发明实施例的用于自动曝光控制的示例方法;
图10示出了曲线图,展示了用于自动曝光控制的不同方法的示例图像噪声;并且
图11示出了高级流程图,展示了根据本发明实施例的用于以动态螺距进行自动曝光控制的示例方法。
具体实施方式
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