[发明专利]用于微细特征细节以便增材制造的方法有效
| 申请号: | 201780049539.8 | 申请日: | 2017-07-17 |
| 公开(公告)号: | CN109562614B | 公开(公告)日: | 2021-06-08 |
| 发明(设计)人: | T.G.桑兹;J.C.克鲁斯;J.德利昂;C.里夫 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
| 主分类号: | B29C64/135 | 分类号: | B29C64/135;B33Y10/00;B29C64/386;B33Y30/00;B33Y80/00;B33Y50/00;B33Y50/02 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 朱铁宏;金飞 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 微细 特征 细节 以便 制造 方法 | ||
1.一种基于部件的三维模型以一系列层制造所述部件的方法,所述部件的模型根据与所述部件的层的取向相对应的x-y构建平面和正交于所述x-y构建平面的在所述部件的底部和顶部之间限定所述部件的每个层的次序的z轴定向,所述方法包括:
确定增材制造设备的构建层厚度;
基于由所述部件的模型和所述部件之间的定标因子所定标的构建层厚度由多个分层将所述模型分成多个构建层;
识别所述模型内所述部件的基准特征和在所述基准特征的最底点与最接近所述基准特征的构建层的底部之间的相关基准偏移;
识别在所述模型内所述部件的特征和在所述特征的最底点与最接近所述特征的构建层的底部之间的相关第一偏移;
基于所述第一偏移和所述基准偏移之间的差值确定所述特征未沿着所述z轴对齐;以及
通过由所述第一偏移和所述基准偏移之间的差值限定的特征偏移在所述模型内沿着所述z轴移动所述特征,使得所述特征沿着所述z轴对齐。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述定标因子为1。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述特征偏移为零使得确定所述特征未对齐包括:
确定所述特征的最底点未定位在构建层的底部处。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述特征偏移为所述特征的最底点与最接近构建层的底部之间的差值。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,最接近构建层的底部为所述多个分层中的一个分层的位置。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基准偏移限定非零数值,并且其中确定所述特征未对齐包括:
确定所述第一偏移不同于所述基准偏移,使得所述特征的所述最底点相对于最接近所述基准特征的所述构建层的底部限定不同距离。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,最接近所述最底点的所述构建层的底部为假设分层。
8.根据权利要求1所述的方法,还包括:
根据所述模型使用所述增材制造设备基于一层一层地制造所述部件,包括使层具有所述构建层厚度。
9.一种基于部件的三维模型以一系列层制造所述部件的方法,所述部件的模型根据与所述部件的层的取向相对应的x-y构建平面和正交于所述x-y构建平面的在所述部件的底部和顶部之间限定所述部件的每个层的次序的z轴定向,所述方法包括:
确定增材制造设备的构建层厚度;
识别所述模型内所述部件的基准特征和所述基准特征沿着所述z轴的最底点的相关位置;
识别在所述模型内所述部件的特征和所述特征沿着所述z轴的最底点的相关位置;
确定所述特征沿着所述z轴的所述最底点的位置的值与所述基准特征沿着所述z轴的所述最底点的位置的值之间的差值;
基于所述构建层厚度和在所述部件的所述模型和所述部件之间的定标因子确定定标的构建层厚度;
基于所述差值是否不是所述定标的构建层厚度的倍数确定所述特征未沿着所述z轴对齐;以及
通过特征偏移在所述模型内沿着所述z轴移动所述特征,使得所述差值是所述定标的构建层厚度的倍数。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,还包括:
根据所述模型基于一层一层地制造所述特征,包括使层具有所述构建层厚度。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,特征偏移是对所述差值和所述定标的构建层厚度的模运算的结果。
12.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述定标因子为1。
13.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
基于所述定标的构建层厚度由多个分层将所述模型分成多个构建层。
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