[发明专利]测定装置、测定方法及测定程序

说明书

测定装置具备发光部、受光部和控制部。发光部射出针对部位的照射光。受光部检测与照射光相应的来自部位的散射光。控制部使发光部射出第一强度的第一照射光和比第一强度低的第二强度的第二照射光。控制部基于第一散射光和第二散射光检测规定的信号，第一散射光是受光部根据第一照射光检测的，第二散射光是受光部根据第二照射光检测的。

向相关申请的交叉参考

本申请主张日本国专利申请2016-139565号(2016年7月14日申请)的优先权，在此为了参照而引入该申请的公开整体。

技术领域

本公开涉及测定装置、测定方法及测定程序。

背景技术

在现有技术中，公知一种测定装置，具备：测定部，基于对被检查者照射的光引起的散射光，取得被检查者的生物体信息。测定装置取得的信息例如包括与被检查者的动作引起的噪声相关的信息。测定装置为了除去与噪声相关的信息，有时除了具备取得被检查者的生物体信息的测定部以外，还具备仅取得与噪声相关的信息的测定部(例如，参照专利文献1)。再有，公知一种利用了多个不同波长的光的光学式血流计测装置(例如，参照专利文献2)。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2012-143316号公报

专利文献2：日本特开2013-150772号公报

发明内容

一方式的测定装置具备射出针对部位的照射光的发光部。所述测定装置具备检测与所述照射光相应的来自所述部位的散射光的受光部。所述测定装置具备控制部。所述控制部使所述发光部在不同的时刻射出第一强度的第一照射光和比所述第一强度低的第二强度的第二照射光。所述控制部基于根据所述第一照射光而由所述受光部检测的第一散射光和根据所述第二照射光而由所述受光部检测的第二散射光，检测规定的信号。

一方式的测定方法包括：在不同的时刻向部位射出第一强度的第一照射光和比所述第一强度低的第二强度的第二照射光的步骤。所述测定方法包括：基于根据所述第一照射光检测的第一散射光和根据所述第二照射光检测的第二散射光，检测规定的信号的步骤。

一方式的测定程序使计算机执行：在不同的时刻向部位射出第一强度的第一照射光和比所述第一强度低的第二强度的第二照射光的步骤。所述测定程序使计算机执行：基于根据所述第一照射光检测的第一散射光和根据所述第二照射光检测的第二散射光，检测规定的信号的步骤。

附图说明

图1是表示一实施方式所涉及的测定装置的示意结构例的框图。

图2是表示照射光及散射光的光路的一例的图。

图3是表示照射光及散射光的光路的一例的图。

图4是表示一实施方式所涉及的测定方法的步骤的一例的流程图。

具体实施方式

在取得被检查者的生物体信息之际，通过除去噪声，从而能使生物体信息更正确。

如图1所示，一实施方式所涉及的测定装置10具备控制部12、发光部16和受光部18。测定装置10从被检查者的部位50以接触或者非接触的方式取得被检查者的生物体信息。

发光部16基于来自控制部12的控制信息，例如如图2所示那样对部位50射出照射光22。发光部16例如具备发光二极管或者激光二极管等发光元件。发光二极管也称为LED(Light Emitting Diode)。激光二极管也称为LD(Laser Diode)。发光部16既可以具备1个发光元件，也可以具备2个以上的发光元件。发光部16可以射出规定波长的光。发光部16可以射出多个波长的光。发光部16可以射出具有遍及规定范围的波长的光。