[发明专利]土壤分析装置以及土壤分析方法

说明书

本发明的课题在于提供一种精度好地求出作为用于评价土壤肥力的指标的CEC的土壤分析装置以及土壤分析方法。本发明的解決手段在于，土壤分析装置包括：传感器(10)，具有励磁线圈(11)和检测线圈(12)；计测部(20)，为了向成为分析对象的土壤施加交替磁场，按照每个频率生成输入到励磁线圈(11)的激励信号，并通过向成为分析对象的土壤施加交替磁场来对从检测线圈(12)输出的检测信号进行处理；存储部(33)，与不同成分的多份土壤相关地存储与定量值和估计值的相关性相关的数据，该定量值是包含CEC的土壤肥力特征的定量值，该估计值是根据使用传感器(10)和计测部(20)计测的处理后的检测信号求出的包含CEC的土壤肥力特征的估计值；以及估计部(34)，基于对成为分析对象的土壤通过传感器(10)施加交替磁场并使用计测部(20)处理的检测信号，并使用存储于存储部(33)的数据，估计成为分析对象的土壤的包含CEC的土壤肥力特征。

技术领域

本发明涉及能够求出用于评价土壤的肥力的指标的土壤分析装置以及土壤分析方法。

背景技术

为了提高农产品的生产性，有必要适当把握土壤的肥力。作为土壤的肥力的指标，存在土壤中所含的有效氮、有效磷酸、总磷、总碳、总氮、K、Ca、Mg、Fe、Al、Na、CN比、CEC(Cation Exchange Capacity，阳离子交换容量)等的土壤肥力特征。例如，为了分析有效氮的量，提出了针对使用磷酸缓冲液提取了土壤的有机物的提取液进行可见吸收分光或者紫外吸收分光，或者利用近红外反射光分光的方法。作为简单求出这些指标的方法，本发明人们的一部分提出了通过向土壤照射激发光、并分析来自土壤的荧光光谱来估计土壤肥力特征的方法(专利文献1)。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第5885168号公报。

非专利文献

非专利文献1：土壌標準分析·測定委員会編集、「土壌標準分析·測定法」、株式会社博友社、昭和61年11月15日、p150-154(土壤标准分析/测定委员会编辑，“土壤标准分析/测定法”，株式会社博友社，昭和61年11月15日，p150-154)。

发明内容

但是，存在通过荧光光谱的分析而估计的阳离子交换容量(CEC：Cation ExchangeCapacity)不能与有效氮、有效磷酸、总碳、总氮、CN比等的其他土壤肥力特征相同程度地精度高地求出的问题。另外，为了计测来自土壤的荧光，在使用水等的分散介质时，当存在浑浊等时，存在不能很好地测定荧光的问题。

因此，本发明鉴于上述问题，目的在于提供精度高地求出作为用于评价土壤肥力的指标的包含CEC的土壤肥力特征的土壤分析装置以及土壤分析方法。

为了达到上述目的，本发明具有如下的观点。

[1]一种土壤分析装置，包括：

传感器，具有线圈；

计测部，为了向成为分析对象的土壤施加交替磁场，按照每个频率生成输入到所述线圈的激励信号，并通过向成为分析对象的土壤施加交替磁场来处理从所述线圈输出的检测信号；

存储部，与成分不同的多份土壤相关地存储与定量值和估计值的相关性相关的数据，所述定量值是包含CEC的土壤肥力特征的定量值，所述估计值是根据使用所述传感器和所述计测部计测的处理后的检测信号求出的包含CEC的土壤肥力特征的估计值；以及

估计部，基于对成为分析对象的土壤通过所述传感器施加交替磁场并使用所述计测部处理的检测信号，并使用存储于所述存储部的数据，估计成为分析对象的土壤的包含CEC的土壤肥力特征。

[2]根据上述[1]所述的土壤分析装置，其中，