[发明专利]通过自适应空间采样获取和形成光谱测定图像的方法

权利要求书

1.一种用于获取和形成样本(1)的光谱测定图像(Pict)的方法，包括以下步骤：

a)以数字方式获取所述样本(1)的区域(4)的初始结构图像(IM0)，所述初始结构图像(IM0)包括排列成多行和多列的像素；

b)以数字方式处理所述初始结构图像(IM0)以将所述初始结构图像(IM0)分解成与第一空间采样间距相关联的至少一个第一像素块和与第二空间采样间距相关联的第二像素块，所述第一空间采样间距大于所述第二空间采样间距，从而确定所述样本(1)的所述区域(4)的多尺度空间采样，其中，步骤b)包括将所述初始结构图像(IM0)分解为小波的步骤、或在所述初始结构图像(IM0)中搜索轮廓的步骤、或在所述初始结构图像(IM0)中搜索形式的步骤；

c)根据在步骤b)确定的所述多尺寸空间采样来确定在所述样本的所述区域(4)中的多个光谱测定测量位置(Xi，Yj)；

d)对于在步骤c)确定的所述多个光谱测定测量位置的各个光谱测定测量位置(Xi，Yj)，将激发束相继地定位在光谱测定测量位置(Xi，Yj)处，并且对于所述光谱测定测量位置(Xi，Yj)获取光谱测定测量；

e)逐点地重建光谱测定图像(Pict)，经重建的光谱测定图像(Pict)的各个点是由在步骤d)获取的一个或若干光谱测定测量获得的。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤b)包括步骤b1)：将所述初始结构图像(IM0)分解为1阶的第一分量、第二分量、第三分量和第四分量(BL1、HL1、LH1、HH1)的小波，1阶的每个分量(BL1、HL1、LH1、HH1)具有的像素数量等于所述初始结构图像(IM0)的像素数量的四分之一，所述1阶的第一分量表示所述初始结构图像(IM0)的低空间频率，所述1阶的第二分量(HL1)表示所述初始结构图像(IM0)的水平变化，所述1阶的第三分量(LH1)表示所述初始结构图像(IM0)的垂直变化，并且所述1阶的第四分量(HH1)表示所述初始结构图像(IM0)的对角线变化，以及通过对这些变化进行阈值化来对所述1阶的第二分量及相应的第三分量和第四分量(HL1、LH1、HH1)进行滤波，以形成1阶的第二滤波分量及相应的第三滤波分量和第四滤波分量的步骤，

-步骤c)包括根据在步骤b1)确定的所述1阶的第二滤波分量、第三滤波分量和第四滤波分量的值来确定在所述样本的所述区域(4)中的多个光谱测定测量位置(Xi，Yj)的步骤c1)；并且

-在步骤e)，通过在步骤d)处获取的所述光谱测定测量的线性组合来获得经重建的光谱测定图像(Pict)的各个点。

3.根据权利要求2所述的方法，在分解所述初始结构图像(IM0)的步骤b1)之后和在光谱测定测量的步骤d)和重建的步骤e)之前，包括以下附加步骤bN)至eN)，其中，步骤bN)至cN)从N＝2迭代至N＝M，并且其中，步骤dN)至eN)从N＝M迭代至N＝2，其中M表示大于或等于二并且小于或等于2^m x 2^m个像素的初始结构图像(IM0)中的m的自然整数：

bN)将N-1阶的第一分量(BL[N-1])分解为N阶的第一分量、第二分量、第三分量和第四分量(BLN、HLN、LHN、HHN)，所述N阶的第一分量(BLN)表示所述N-1阶的第一分量(BL[N-1])的低空间频率，所述N阶的第二分量(HLN)表示所述N-1阶的第一分量(BL[N-1])的水平变化，所述N阶的第三分量(LHN)表示所述N-1阶的第一分量(BL[N-1])的垂直变化，并且所述N阶的第四分量(HHN)表示所述N-1阶的第一分量的对角线变化，并且通过阈值化对所述N阶的第二分量及相应的第三分量和第四分量(HLN、LHN、HHN)进行滤波，以形成N阶的第二滤波分量及相应的第三滤波分量和第四滤波分量；

cN)根据N阶的第二滤波分量、第三滤波分量和第四滤波分量的值，确定在所述样本的所述区域(4)中的N阶的多个光谱测定测量位置(Xi，Yj)；

dN)对于在步骤cN)确定的所述N阶的多个光谱测定测量位置的各个光谱测定测量位置(Xi，Yj)，将所述激发束定位至N阶的光谱测定测量位置(Xi，Yj)，并且获取所述N阶的光谱测定测量位置(Xi，Yj)的光谱测定测量；

eN)在N-1阶重建光谱测定图像，在N-1阶重建的光谱测定图像的各个点是通过在步骤dN)获取的所述光谱测定测量的线性组合来获得的。