[发明专利]包括多个光导的检测器系统和包括检测器系统的光谱仪

权利要求书

1.一种检测器系统(100)，包括：

多个光导(11a，11b，11c，11d)，使用时每个光导引导来自相应的对象的入射光，其中借助于照明装置(10)来提供所述入射光，所述照明装置(10)包括至少两个光源，用于向每个光导(11a，11b，11c，11d)提供光，其中来自所述照明装置(10)的光透射穿过所述对象并至少部分地由从所述对象接收所述入射光的相应的光导收集；

衍射装置(12)，用于将所述入射光衍射成不同波长范围；

至少一个聚焦器(13)，用于将离开所述光导的所述入射光投射到所述衍射装置上；

检测器(14)，具有用于从所述多个光导接收衍射光的检测器区域；以及

控制单元(15)，被布置为：

基于被配置为指示用于激活每个照明装置(10)的定时的脉冲定时参数，使所述入射光一次仅脉动通过一个光导，以及

基于所述脉冲定时参数，记录从每个光导衍射并由所述检测器(14)检测的光的光谱，

其中，所述检测器区域的用于接收从第一光导衍射的光的第一子区域在所述检测器区域上与所述检测器区域的用于接收从第二光导衍射的光的第二子区域重叠，以及

其中，所述检测器区域具有特定的高度和特定的宽度，用于接收来自所述多个光导的衍射光束，其中所述多个光导(11a，11b，11c，11d)中的至少两个光导沿着平行于所述高度的方向彼此叠置而布置成特定的几何配置。

2.根据权利要求1所述的检测器系统(100)，其中，所述几何配置为光导保持器(21)的形状，其中所述光导保持器具有多于一个的行和多于一个的列，其中所述光导保持器(21)的每个位置被布置为被光导占据。

3.根据权利要求1或2所述的检测器系统(100)，其中，所述对象是颗粒。

4.根据权利要求1所述的检测器系统(100)，其中，所述检测器区域的宽度小于256个像素。

5.根据权利要求1所述的检测器系统(100)，其中，所述检测器包括2D检测器区域。

6.根据权利要求5所述的检测器系统(100)，其中，所述控制单元(15)还被布置为：

将与所记录的光谱相关联的信息与和至少一个参考光谱相关联的对应信息进行比较，以及

确定所记录的光谱是否与所述至少一个参考光谱相匹配。

7.根据权利要求6所述的检测器系统(100)，其中，所述控制单元还被布置为：

基于所记录的光谱与所述至少一个参考光谱之间的匹配来识别关联对象的特性。

8.根据权利要求1所述的检测器系统(100)，其中，所记录的光谱适于从所述检测器的关联子区域的每个像素直接读出。

9.根据权利要求1所述的检测器系统(100)，其中，所述检测器是光电传感器，所述光电传感器与用于从所述检测器即时读出的至少一个模数(AD)转换器相连。

10.根据权利要求1所述的检测器系统(100)，其中，所述检测器包括用于从所述检测器顺序读出的CMOS基板。

11.根据权利要求1所述的检测器系统(100)，其中，所述照明装置被布置为提供在800nm至2600nm范围内的光。

12.根据权利要求1所述的检测器系统(100)，其中，每个照明装置包括至少两个LED照明装置。

13.根据权利要求1所述的检测器系统(100)，其中，每个照明装置包括LED、激光器或频闪仪照明装置中的至少两个，其中所述LED、所述激光器或所述频闪仪照明装置中的每一个提供不同波长光谱的光。