[发明专利]异物检查装置在审
申请号: | 201780034732.4 | 申请日: | 2017-06-06 |
公开(公告)号: | CN109313280A | 公开(公告)日: | 2019-02-05 |
发明(设计)人: | 野口真悟;川口祐二 | 申请(专利权)人: | 株式会社石田;日新电子工业株式会社 |
主分类号: | G01V3/11 | 分类号: | G01V3/11;G01V5/00;G01N27/82;G01N23/04 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 玉昌峰;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 被检查物 输送辊 输送区域 异物检查装置 环形带 支承板 支承 金属 并排设置 金属检测 上游端 下游端 异物 磁场 配置 架设 检测 | ||
1.一种异物检查装置,包括:
输送部,输送被检查物;以及
金属检测部,利用磁场与金属的相互作用,将包含于正通过所述输送部输送的所述被检查物的金属作为异物而检测出,
所述输送部具有:
第一输送辊,配置于所述输送部输送所述被检查物的输送区域的上游端;
第二输送辊,配置于所述输送区域的下游端;
环形带,架设于所述第一输送辊和所述第二输送辊;以及
支承板,在所述输送区域中支承所述环形带,
所述支承板包括多个支承部分,多个所述支承部分沿所述输送部输送所述被检查物的输送方向并排设置且相互分离。
2.根据权利要求1所述的异物检查装置,其中,所述异物检查装置还包括:
X射线检查部,利用X射线的透过性,检测包含于正通过所述输送部输送的所述被检查物的异物;以及
壳体,将所述输送部的至少一部分、所述X射线检查部以及所述金属检测部收容于内部,所述壳体具有通过所述输送部送入所述被检查物的送入口和通过所述输送部送出所述被检查物的送出口。
3.根据权利要求2所述的异物检查装置,其中,
在多个所述支承部分中的任一支承部分上形成有供所述X射线检查部的X射线通过的开口。
4.根据权利要求2所述的异物检查装置,其中,
在彼此相邻的所述支承部分之间形成有供所述X射线检查部的X射线通过的间隙。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的异物检查装置,其中,
所述金属检测部具有箱体,探测线圈配置于所述箱体的内部、且所述输送部通过所述箱体的内部,
多个所述支承部分在所述箱体的外侧相互分离。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的异物检查装置,其中,
所述输送部还具有:
第一支承框架,所述第一输送辊和多个所述支承部分中的配置于所述输送区域的最上游侧的所述支承部分安装于所述第一支承框架;以及
第二支承框架,所述第二输送辊和多个所述支承部分中的配置于所述输送区域的最下游侧的所述支承部分安装于所述第二支承框架。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的异物检查装置,其中,
所述支承板包括沿所述输送方向并排设置且相互分离的两个或三个所述支承部分。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的异物检查装置,其中,
在彼此相邻的所述支承部分中的一支承部分上设有向彼此相邻的所述支承部分中的另一支承部分一侧突出的至少一个第一配合部,
在所述另一支承部分上设有向所述一支承部分一侧突出的多个第二配合部,
所述一支承部分和所述另一支承部分以至少一个所述第一配合部位于彼此相邻的所述第二配合部之间的状态相互配合。
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