[发明专利]用于评估二次电池的活性材料的方法有效
| 申请号: | 201780029106.6 | 申请日: | 2017-03-27 |
| 公开(公告)号: | CN109073465B | 公开(公告)日: | 2021-01-22 |
| 发明(设计)人: | 李锡镇;金孝相;尹晶铉 | 申请(专利权)人: | SK新技术株式会社 |
| 主分类号: | G01J3/44 | 分类号: | G01J3/44;H01M4/36;H01M4/587;G01J3/42 |
| 代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 张晶;赵赫 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 评估 二次 电池 活性 材料 方法 | ||
1.用于评估二次电池的活性材料的方法,其包括:
制备包含核和设置在所述核的表面上的壳的活性材料,所述核包含结晶碳,所述壳包含无定形碳;
在集电器的至少一个表面上形成包含所述活性材料的活性材料层;
通过对所述活性材料层进行拉曼光谱分析,获得所述活性材料的拉曼光谱并从中计算拉曼R值(ID/IG);
获得关于所述拉曼R值的频率分布图;
对所述频率分布图进行归一化以获得概率密度函数;
通过从所述概率密度函数的图中提取指示最大值的拉曼R值(ID/IG)、预定宽度或提取它们二者来评估所述活性材料的壳,
所述拉曼R值(ID/IG)是D带的强度(ID)与G带的强度(IG)的比值,所述G带的强度(IG)是波数域为1500cm-1-1700cm-1处的峰强度,所述D带的强度(ID)是波数域为1300cm-1-1400cm-1处的峰强度,
所述预定宽度是指所述图的相同的纵轴高度处的宽度,
在获得概率密度函数的步骤中,通过使用核密度估计(KDE)方法进行归一化来获得概率密度函数,
根据以下函数式1通过高斯拟合进行所述归一化,
[函数式1]
在上述函数式中,x表示拉曼R值(ID/IG),a0为振幅,a1表示指示根据所述函数式的图的最大值的拉曼R值(ID/IG),a2表示所述图的半峰全宽(FWHM)。
2.根据权利要求1所述的用于评估二次电池的活性材料的方法,其通过使用指示最大值的拉曼R值(ID/IG)作为指示所述活性材料中包含的壳的厚度的相对尺寸的指标,或者使用预定宽度作为指示所述活性材料中包含的壳的厚度的相对均匀性的指标,或者使用它们二者来评估所述活性材料的壳。
3.根据权利要求1所述的用于评估二次电池的活性材料的方法,其中通过在所述活性材料层的表面上选择预定区域并对所述区域使用拉曼光谱仪的拉曼映射进行拉曼光谱分析。
4.根据权利要求3所述的用于评估二次电池的活性材料的方法,其中通过将关于x轴的映射间隔设置为1μm-10μm,将关于y轴的映射间隔设置为1μm-5μm来使用拉曼映射。
5.根据权利要求1所述的用于评估二次电池的活性材料的方法,其中在获得概率密度函数的步骤中,当所述活性材料包含壳厚度尺寸不同、壳厚度均匀性不同或者二者都不同的两种或更多种核-壳颗粒时,获得包含两个或更多个峰的概率密度函数。
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