[发明专利]机床系统以及表面粗糙度检测方法有效

专利信息
申请号: 201780025440.4 申请日: 2017-04-25
公开(公告)号: CN109070297B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 森田浩;福田英二;石原光晴 申请(专利权)人: 株式会社捷太格特
主分类号: B23Q17/24 分类号: B23Q17/24;B23Q11/00;B24B49/02;B24B49/12;B24B55/12
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李洋;苏琳琳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 机床 系统 以及 表面 粗糙 检测 方法
【说明书】:

本发明课题在于提供能够适当地测定工件的形状的机床系统、提供适当地运算工件的表面粗糙度的机床系统以及使用机床系统的表面粗糙度检测方法、以及具备能够在罐主体设置传感器且能够评价冷却液的污浊度的冷却液的污浊评价装置的机床系统。机床系统具备:工件支承装置(20),其将工件(W)支承为能够旋转;作为工具的砂轮(40),其对工件W进行加工;检测部(120),其以非接触的方式进行工件(W)的传感检测;以及运算部(220),其基于检测部(120)的检测结果而对工件(W)的形状信息的抽出或者工件(W)的表面粗糙度进行运算。

技术领域

本发明涉及机床系统以及使用机床系统的表面粗糙度检测方法。

背景技术

专利文献1记载有对被工件支承装置支承的工件的外径进行测定的尺寸测定装置。尺寸测定装置通过一边使被工件支承装置支承的工件旋转,一边使接触件与工件的表面接触,由此在设备上测定工件的外径。

专利文献2公开表面粗糙度测定装置,其通过在使被悬臂支承的触针以与制件接触的状态移动时,对触针所产生的位移量进行检测,从而测定制件的表面形状。

专利文献3记载有与使加压力恒定而进行的定压进给研磨加工、以及使移动量成为恒定的定量进给研磨加工相关的技术。另外,专利文献 4记载有:以恒定压向切入方向移动,在达到规定的切入量时结束研磨加工。

专利文献5公开有预先准备表示AE波的波形与传感器的表面粗糙度的相关关系的数据,并基于该数据,根据检测到的AE波的波形来推断制件的表面粗糙度的技术。

专利文献6公开有以下技术,即在磨削加工中对工件W的磨削对象面的尺寸进行测定,在该磨削对象面的尺寸达到规定值的情况下降低磨削进给的速度,由此使磨削对象面的表面粗糙度成为所希望的状态。

另外,机床的冷却液供给于加工区域后被回收至罐,再次供给于加工区域。在加工区域与罐循环的冷却液由于包含切屑、粉尘埃等而变污浊,因此一般在循环路径设置过滤器,实现冷却液的净化。但是,通过过滤器无法完全净化冷却液,因此需要定期更换污浊的冷却液。

关于这点,专利文献7公开有:通过在从加工区域向罐循环的管路设置的光传感器、压力传感器来管理冷却液的污浊度,对冷却液的更换时期进行判断的技术。

专利文献8记载有:在安装有非接触传感器头部形成气流供给路径,通过从该气流供给路径喷出清洁的空气,从而防止在非接触传感器附着尘埃、油雾的测量装置。

专利文献1:日本特开2014-144518号公报

专利文献2:日本特开2006-300823号公报

专利文献3:日本特开平11-291156号公报

专利文献4:日本特开2000-198063号公报

专利文献5:日本特开2012-196740号公报

专利文献6:日本特开2004-42199号公报

专利文献7:日本特开2001-219338号公报

专利文献8:日本特开2010-44042号公报

专利文献1所记载的尺寸测定装置在对工件的外径进行测定的情况下需要使接触件与工件接触。该情况下,恐怕以接触件与工件的接触为起因而在工件的表面产生擦伤。

专利文献2所记载的表面粗糙度测定装置使触针沿曲柄销的轴向横动,由此来测定曲柄销的圆筒部的表面粗糙度,因此针对相对于横动方向不平行的部位,无法测定该部位的表面粗糙度。

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