[发明专利]用于将光纤传感器光学连接到光学形状感测控制台的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201780024663.9 申请日: 2017-04-19
公开(公告)号: CN109073820B 公开(公告)日: 2020-07-24
发明(设计)人: E·G·范皮滕;M·B·范德马克 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G02B6/00 分类号: G02B6/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 光纤 传感器 光学 接到 形状 测控 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种用于将光纤传感器(12)光学连接到光学形状感测控制台(21)的方法,所述光学形状感测控制台(21)具有若干单个光学通道(C1、C2、C3),所述光纤传感器(12)具有若干单个纤维芯(A1、A2、A3),所述若干单个纤维芯围绕所述光纤传感器(12)的纵向中心轴相对于彼此成角度地间隔开,并且所述光纤传感器具有用于连接到与形状感测控制台(21)连接的光耦合器(38)的光纤传感器连接端(30),所述光耦合器(38)具有被布置用于与所述纤维芯(A1、A2、A3)光学连接的光学通道(C1、C2、C3),指示所述单个纤维芯(A1、A2、A3)的个体光学特性的若干单个校准数据集被分配到所述单个光学通道(C1、C2、C3),所述方法包括以下步骤:

i)将所述光纤传感器连接端(30)连接到所述光耦合器(38),使得所述纤维芯(A1、A2、A3)中的第一纤维芯(A2)与所述光学通道(C1、C2、C3)中的第一光学通道(C1)光学通信,

ii)在将所述校准数据集中的第一校准数据集分配给所述第一光学通道(C1)的同时通过光学探询所述第一纤维芯(A2)来测量所述第一纤维芯(A2)的光学响应,

iii)基于所述第一纤维芯(A2)的测得的光学响应和所述光纤传感器(12)的所述校准数据集来识别所述光纤传感器(12)的所述纤维芯(A1、A2、A3)中的所述第一纤维芯(A2),并且

iv)如果所述第一光纤纤芯(A2)被识别为与在测量所述光学响应时使用的所述第一校准数据集不匹配,则

iva)将所述校准数据集中的与识别出的第一纤维芯(A2)匹配的第二校准数据集重新分配给所述第一光学通道(C1),或者

ivb)重新定位所述光纤传感器连接端(30)和/或所述光耦合器(38),使得与所述第一校准数据集匹配的第二纤维芯(A1)与所述第一光学通道(C1)光学通信。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤i)包括将所述光纤传感器连接端(30)和/或所述光耦合器(38)相对于彼此定位以使得所述纤维芯(A1、A2、A3)中的每个以一对一的关系与所述光学通道(C1、C2、C3)中的一个光学通信。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,步骤ii)包括通过对纤维芯(A1、A2、A3)进行光学探询来测量所述纤维芯(A1、A2、A3)中的每个的光学响应,并且步骤iii)包括识别所述光纤传感器(12)的所述纤维芯(A1、A2、A3)中的每个纤维芯(A1、A2、A3)。

4.根据权利要求3所述的方法,其中,步骤iva)包括将所述校准数据集重新分配给所述光学通道(C1、C2、C3),使得识别出的纤维芯(A1、A2、A3)与所述校准数据集匹配,或者步骤ivb)包括重新定位所述光纤传感器连接端(30)和/或所述光耦合器(38),使得与所述校准数据集匹配的所述纤维芯(A1、A2、A3)与所述光学通道(C1、C2、C3)光学通信。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤i)还包括光学地探询所述第一光学通道(C1)并且定位所述光纤传感器连接端(30)和/或所述光耦合器(38),直到来自所述第一纤维芯(A2)的光学响应信号的强度最大。

6.根据权利要求1所述的方法,还包括光学地探询所述光纤传感器纤芯(A1、A2、A3)中的每个并且定位所述光纤传感器连接端(30)和/或所述光耦合器(38),直到来自所述纤维芯(A1、A2、A3)中的每个的光响应信号的强度最大。

7.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤ii)中的所述测得的光学响应包括所述第一纤维芯(A2)的空间分辨的散射概况。

8.根据权利要求7所述的方法,其中,所述纤维芯(A1、A2、A3)具有作为散射结构的光纤布拉格光栅,并且步骤iii)包括通过使用根据所述空间分辨的散射概况获得的空间强度概况来识别所述第一纤维芯(A2)。

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