[发明专利]连接器、连接状态检测系统以及端子有效
申请号: | 201780021203.0 | 申请日: | 2017-03-21 |
公开(公告)号: | CN108886219B | 公开(公告)日: | 2020-10-20 |
发明(设计)人: | 界达郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社自动网络技术研究所;住友电装株式会社;住友电气工业株式会社 |
主分类号: | H01R13/641 | 分类号: | H01R13/641 |
代理公司: | 上海和跃知识产权代理事务所(普通合伙) 31239 | 代理人: | 余文娟 |
地址: | 日本国三重县*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 连接器 连接 状态 检测 系统 以及 端子 | ||
本说明书所公开的技术是一种以简易的手法来检测由经年劣化等而导致导通不良的处所的技术。涉及本说明书的技术的连接器具备:连接器壳体(30),其具有腔(31);以及作为第1端子的端子(12),其隔着绝缘膜(13)与作为对方侧的导电性部件的端子(12A)之间连接,并且被收纳到腔(31)内。
技术领域
本说明书所公开的技术涉及一种连接器、连接状态检测系统以及端子。
背景技术
在搭载于车辆的线束等中要求较高的通电信赖性。在此,提案如下技术:通过检测由经年劣化等而导致导通不良的处所,从而维持通电信赖性。
例如,在专利文献1所公开的电路结构中,相对于一般的电气路径、即主线路,另外准备虚设线路。接着,基于比主线路易产生经年劣化的虚设线路的导通不良来检测主线路的导通不良。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2015-222688号公报
发明内容
发明所要解决的课题
在上述的专利文献1所公开的技术中,需要进行将虚设线路设为比主线路更易产生经年劣化的电气路径的加工。另外,用于检测虚设线路的导通不良的构成也容易变得较复杂。
本说明书所公开的技术是涉及一种用于解决以上所记载的问题的、以简易的手法来检测由经年劣化等而导致的导通不良的处所的技术。
用于解决课题的手段
本说明书所公开的技术的第一方式具备:连接器壳体,其具有腔;以及第1端子,在所述第1端子与对方侧的导电性部件之间且在一方插入到另一方的整个范围设置绝缘膜,所述第1端子隔着所述绝缘膜与所述导电性部件之间连接,并且被收纳到所述腔内。
另外,本说明书所公开的技术的第二方式与第一方式相关联,所述连接器壳体具备多个所述腔,所述连接器进一步具备第2端子,所述第2端子与对方侧的导电性部件之间电气连接,且被收纳于与收纳所述第1端子的所述腔不同的腔。
另外,本说明书所公开的技术的第三方式,其中,
根据权利要求1或者2所述的连接器;以及
检测部,其连接于所述第1端子,并且检测对方侧的所述导电性部件与所述第1端子之间有无导通。
另外,本说明书所公开的技术的第4方式与第3方式相关联,所述检测部是报知部。
另外,本说明书所公开的技术的第5方式是一种端子,其与对方侧的导电性部件连接,所述端子具备绝缘膜,所述绝缘膜设置于所述端子与对方侧的所述导电性部件之间且一方插入到另一方的整个范围。
另外,本说明书所公开的技术的第6方式是与第5方式相关联,所述绝缘膜包含锌、氧化铝、或者搪瓷。
另外,本说明书所公开的技术的第7方式与第5方式或者第6方式相关联,所述端子是阳端子。
发明效果
根据本说明书所公开的技术的第1方式以及第5方式,在隔着绝缘膜与对方侧的导电性部件之间连接的第1端子中流通电流的情况下,能够检测绝缘膜的经年劣化。并且,通过将绝缘膜的经年劣化与在同等的环境下的端子之间的电气连接的经年劣化置换等简易的手法,从而能检测出该端子之间的电气连接导通不良的处所。
特别是,根据第2方式,在同一连接器壳体的不同的腔内一起收纳第1端子和第2端子。因此,两端子被放置的环境近似。因此,提高将绝缘膜的经年劣化与端子之间的电气连接的经年劣化置换的妥当性,并提高将该端子之间的电气连接作为导通不良的处所检测的精度。
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