[发明专利]薄膜电容器

说明书

薄膜电容器(100)具备：电介质薄膜(111)、第1电极(135)和第2电极(115)。第1电极被配置于电介质薄膜的一个主面(111a)的一侧，由导体薄膜构成。第2电极被配置于隔着电介质薄膜而与第1电极对置的位置，由导体薄膜构成。电介质薄膜具有短方向(D1)和长方向(D2)。第1电极具有：在长方向延伸的第1连接电极(134)、通过在长方向延伸的第1长方向狭缝(144)而与第1连接电极被划分的第1对置电极(132a)、和第1保险丝(133a)。第1保险丝将第1长方向狭缝横贯从而将第1连接电极与第1对置电极连接。第2电极具有：在长方向延伸的第2连接电极(114)、和不经由保险丝而与第2连接电极连接的第2对置电极(112)。

技术领域

本公开涉及用于各种电子设备、电气机械、工业设备的薄膜电容器。

背景技术

薄膜电容器一般被大致区分为将金属箔用于电极的电容器、和将设置在电介质薄膜上的蒸镀金属用于电极的电容器。将蒸镀金属设为电极的金属化薄膜电容器与使用金属箔的电容器相比，电极所占的体积较小，可实现小形轻型化。此外，将蒸镀金属设为电极的金属化薄膜电容器在绝缘缺陷部产生短路的情况下，由于短路的能量导致缺陷部周边的蒸镀电极蒸发/飞散并绝缘化，电容器的功能恢复。由此，金属化薄膜电容器对于绝缘击穿的可靠性较高，以往被广泛使用。

此外，也使用通过设置保险丝功能来进一步提高安全性的金属化薄膜电容器。

另外，作为与本申请有关的在先技术文献信息，例如已知专利文献1。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：JP特开2005-12082号公报

发明内容

但是，现有的金属化薄膜电容器存在绝缘击穿的位置发热的情况，具有可能诱发包含金属化薄膜电容器的电路整体的故障的课题。

本公开的一方式的薄膜电容器具备：电介质薄膜、第1电极和第2电极。第1电极被配置于电介质薄膜的一个主面的一侧，由导体薄膜构成。第2电极被配置于隔着电介质薄膜而与第1电极对置的位置，由导体薄膜构成。这里，电介质薄膜具有短方向和长方向。第1电极具有：在长方向延伸的第1连接电极、和通过在长方向延伸的第1长方向狭缝而与第1连接电极被划分的第1对置电极。第1电极具有将第1长方向狭缝横贯从而将第1连接电极与第1对置电极连接的第1保险丝。第2电极具有：在长方向延伸的第2连接电极、和不经由保险丝而与第2连接电极连接的第2对置电极。

本公开的一方式的薄膜电容器对绝缘击穿的位置的发热进行抑制，具有优良的安全性和优良的可靠性。

附图说明

图1A是实施方式1所涉及的薄膜电容器的剖视图。

图1B是构成图1A所示的薄膜电容器的第1金属化薄膜的俯视图。

图1C是构成图1A所示的薄膜电容器的第2金属化薄膜的俯视图。

图2A是表示图1A所示的薄膜电容器的电容形成状态的俯视图。

图2B是图2A所示的薄膜电容器的等效电路图。

图3A是表示在实施方式1所涉及的薄膜电容器产生绝缘击穿的状态的俯视图。

图3B是图3A所示的薄膜电容器的A3-A3线处的剖视图。

图3C是图3A所示的薄膜电容器的等效电路图。

图4A是构成实施方式1所涉及的变形例的薄膜电容器的第1金属化薄膜的俯视图。

图4B是表示实施方式1所涉及的变形例的薄膜电容器的电容形成状态的俯视图。

图5A是实施方式2所涉及的薄膜电容器的剖视图。