[发明专利]触摸屏、触摸面板、显示装置及电子设备有效
申请号: | 201780014159.0 | 申请日: | 2017-02-16 |
公开(公告)号: | CN108780368B | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 外德仁;中村达也 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/044 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 触摸屏 触摸 面板 显示装置 电子设备 | ||
本发明目在于在窄边框触摸屏中,使静电电容的偏移降低,对检测灵敏度的不均衡进行抑制。本发明的触摸屏具备:多个检测用行配线(21),它们沿行方向延伸;多个检测用列配线(31),它们沿列方向延伸,与多个检测用行配线(21)立体地交叉而将该交叉范围规定为检测区域;多个引出配线(R1~R6、C1~C8),它们将多个检测用行配线(21)、多个检测用列配线(31)与端子(8)电连接,以彼此接近地引绕的状态配置;以及最外周屏蔽配线(41),其沿最外侧的引出配线(R1、C1)的更外侧将检测区域包围,与端子(8)连接。在检测区域或多个引出配线(R1~R6、C1~C8)与最外周屏蔽配线(41)之间的区域,有不存在层间绝缘膜的区域。
技术领域
本发明涉及触摸屏、具备该触摸屏的触摸面板、以及具备该触摸面板的显示装置及电子设备。
背景技术
作为对由使用者的手指或笔等指示体指示出的触摸屏上的位置(下面也称为“触摸位置”)进行检测而输出的装置,触摸面板广为人知。作为触摸面板的触摸位置的检测方式,已知多个检测方式。作为其中的静电电容方式的触摸面板之一,存在投影型静电电容(Projected Capacitive)方式的触摸面板(例如,参照专利文献1、2)。
投影型静电电容方式的触摸面板在用厚度为几mm左右的玻璃板等保护板覆盖了触摸屏的使用者侧的面(下面有时称为“前侧面”)的情况下,也能够进行触摸位置的检测。投影型静电电容方式的触摸面板具有如下等优点,即:由于能够将保护板配置于前侧面,因此坚固性优异;使用者在佩戴了手套的状态下进行触摸也能够检测出触摸位置;以及由于不存在可动部,因此寿命长。
投影型静电电容方式的触摸面板的触摸屏构成为具备对触摸位置的列方向的坐标进行检测的检测用列配线和对触摸位置的行方向的坐标进行检测的检测用行配线。在以下说明中,有时将检测用列配线和检测用行配线一起称为“检测用配线”。
在专利文献2中公开了与触摸面板相当的触摸板系统。就专利文献2中公开的触摸板系统而言,作为用于对静电电容(下面,有时仅称为“电容”)进行检测的检测用配线,具备:第1系列导体要素,其是在薄的介电膜之上形成的;以及第2系列导体要素,其是在第1系列导体要素之上隔着绝缘膜而形成的。各导体要素之间没有电接触,如果从前侧面的法线方向观察,则第1系列导体要素和第2系列导体要素重叠,但形成的是没有电接触的交叉部分。
通过利用检测电路对在手指等指示体和作为检测用配线的导体要素之间形成的电容(下面有时称为“触摸电容”)进行检测,从而对指示体的触摸位置的位置坐标进行确定。另外,通过大于或等于1个导体要素的检测电容的相对值,能够对导体要素之间的触摸位置进行插补。这样的位置坐标的检测方法通常称为自电容检测方式。
另外,存在如下检测方式,即,通过对在沿行方向延伸而构成第1电极的多个检测用行配线和沿列方向延伸而构成第2电极的多个检测用列配线之间的电场变化,即互电容的变化进行检测,从而对所触摸的位置的位置坐标进行确定(例如,参照专利文献3)。该检测方式通常称为互电容检测方式。
在上述自电容方式及互电容方式的任意者的情况下,均通常采用如下方法,即,如果利用手指等指示体对由检测用行配线和检测用列配线格子状地划分出的平面区域(检测单元格)进行触摸,则基于所触摸的检测单元格(传感器区块)处的检测值和该传感器区块附近的检测单元格处的检测值之间的均衡,对触摸位置的位置坐标进行确定。
在本说明书中,将在基板配置了检测用列配线和检测用行配线的部件称为“触摸屏”,将向触摸屏连接了检测用电路的装置称为“触摸面板”。另外,将在触摸屏中,可检测出触摸位置的区域称为“可检测区域”。
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