[发明专利]控制颜色特性的氧化物粒子的制造方法、氧化物粒子、以及含有其的涂布用或膜状组合物有效

专利信息
申请号: 201780008085.X 申请日: 2017-02-02
公开(公告)号: CN108495812B 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 榎村真一;本田大介 申请(专利权)人: M技术株式会社
主分类号: C01B13/14 分类号: C01B13/14;C01F17/235;C01F17/10;C01G9/02;C01G49/00;C01G49/06
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 吴宗颐
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 控制 颜色 特性 氧化物 粒子 制造 方法 以及 含有 涂布用 组合
【权利要求书】:

1.氧化物粒子的制造方法,其特征在于,通过控制选自金属氧化物粒子和半金属氧化物粒子的氧化物粒子中含有的氧或氢以外的单个或不同的多个元素M与羟基OH的键即M-OH键的比率,控制上述氧化物粒子的颜色特性,

使用具备除去部的分散液改性装置控制上述M-OH键的比率,所述除去部使用滤膜,

上述M-OH键的比率是通过波形分离红外吸收光谱中的波数100cm-1至1250cm-1的来自上述氧化物粒子的峰而计算的,是经波形分离的来自M-OH键的峰的面积相对于上述经波形分离的各峰的总面积的比率,

上述氧化物粒子的粒径为1nm以上50nm以下。

2.氧化物粒子的制造方法,其特征在于,通过控制选自金属氧化物粒子和半金属氧化物粒子的氧化物粒子中含有的氧或氢以外的单个或不同的多个元素M与羟基OH的键即M-OH键的比率,控制上述氧化物粒子的颜色特性,

使用具备除去部的分散液改性装置控制上述M-OH键的比率,所述除去部使用滤膜,

上述M-OH键的比率是通过波形分离红外吸收光谱中的波数100cm-1至1250cm-1的来自上述氧化物粒子的峰而计算的,是经波形分离的来自M-OH键的峰的面积相对于上述经波形分离的各峰的总面积的比率,

上述氧化物粒子为单个氧化物粒子的表面、或多个氧化物粒子凝集而成的凝集体的表面的至少一部分被硅化合物覆盖的氧化物粒子,

上述氧化物粒子或氧化物粒子的凝集体的粒径为1nm以上50nm以下。

3.权利要求1或2所述的氧化物粒子的制造方法,其特征在于,上述颜色特性为反射率、透射率、摩尔吸光系数、色相、或彩度中的任一项。

4.权利要求1或2所述的氧化物粒子的制造方法,其特征在于,通过进行上述氧化物粒子中含有的官能团的变更处理,控制上述氧化物粒子中含有的M-OH键的比率。

5.权利要求4所述的氧化物粒子的制造方法,其特征在于,上述官能团的变更处理为加成反应、消去反应、脱水反应、取代反应中的任一种。

6.权利要求4所述的氧化物粒子的制造方法,其特征在于,上述官能团的变更处理为酯化处理。

7.权利要求1或2所述的氧化物粒子的制造方法,其特征在于,在使上述氧化物粒子分散于分散介质中而成的分散体的状态下控制上述M-OH键的比率。

8.权利要求7所述的氧化物粒子的制造方法,其特征在于,上述分散体为涂膜状,通过对上述涂膜状的分散体进行热处理,控制上述氧化物粒子的颜色特性。

9.权利要求1或2所述的氧化物粒子的制造方法,其特征在于,通过控制经波形分离的来自M-OH键的峰的面积相对于经波形分离的各峰的总面积的比率使之降低,控制对波长780nm至2500nm的光线的平均反射率使之升高。

10.权利要求1或2所述的氧化物粒子的制造方法,其特征在于,通过控制经波形分离的来自M-OH键的峰的面积相对于经波形分离的各峰的总面积的比率使之降低,控制对波长190nm至380nm的光线的平均摩尔吸光系数使之升高。

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