[发明专利]计算机断层摄影X射线成像有效
| 申请号: | 201780003448.0 | 申请日: | 2017-09-04 |
| 公开(公告)号: | CN108135557B | 公开(公告)日: | 2019-04-30 |
| 发明(设计)人: | B·J·布伦德尔;T·克勒;R·普罗克绍 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;A61B6/03 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 计算机断层摄影 配置 采集装置 数据接口 投影数据 归一化 切片 处理单元 校正 能量分辨X射线探测器 感兴趣区域 探测器元件 采集 重建 改进 应用 | ||
1.一种用于计算机断层摄影X射线成像的系统(10),所述系统包括:
-数据接口(12);以及
-处理单元(14);
其中,所述数据接口被配置为提供对象的针对至少第一X射线能量范围和第二X射线能量范围的至少第一CT X射线辐射投影数据和第二CT X射线辐射投影数据,所述第一X射线能量范围与所述第二X射线能量范围彼此不同;
其中,所述对象的所述至少第一CT X射线辐射投影数据和第二CT X射线辐射投影数据包括来自不同角度的X射线测量结果的多个切片,以产生所述对象的截面图像;
其中,所述处理单元被配置为确定针对X射线测量结果的所述多个切片的切片归一化的校正,以关于所述第一CT X射线投影数据和所述第二CT X射线投影数据的像素强度值来对它们进行改变;并且针对所述第一CT X射线投影数据和所述第二CT X射线投影数据应用均等切片归一化,其中,所述切片归一化中的X射线测量结果中的所述多个切片的所述像素强度值是能改变的,使得提供对预定值的参考,并且由此生成经准备的第一CT X射线投影数据和经准备的第二CT X射线投影数据;其中,为了所述校正,所述均等切片归一化基于来自探测如下的X射线辐射的探测器区域的探测器测量结果的测得的数据:所述X射线辐射在成像期间未受被布置在X射线源与X射线探测器之间的辐射路径中的所述对象影响;并且
其中,所述数据接口被配置为提供所述经准备的第一CT X射线投影数据和经准备的第二CT X射线投影数据以供进一步处理。
2.根据权利要求1所述的系统,其中,用作所述均等切片归一化的基础的由所述探测器测量结果提供的所述测得的数据得自所述对象的投影外部的探测器的区,使得所述X射线辐射直接到达所述探测器。
3.根据权利要求2所述的系统,其中,所述测得的数据由外面的探测器元件提供。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的系统,其中,所述系统还包括计算机断层摄影X射线成像采集装置(20),所述计算机断层摄影X射线成像采集装置具有:
-X射线源(22),其被配置为生成X射线束,以及
-X射线探测器(26),其被配置为能量分辨X射线探测器,以同时提供分别针对至少两个不同X射线能量范围的X射线辐射投影数据;
其中,所述计算机断层摄影X射线成像采集装置被配置为采集所述对象的感兴趣区域的针对至少所述第一X射线能量范围和所述第二X射线能量范围的至少所述第一CT X射线投影数据和所述第二CT X射线投影数据。
5.根据权利要求4所述的系统,其中,所述能量分辨X射线探测器是具有第一探测器层和第二探测器层的双层X射线探测器,其中,所述第一探测器层和所述第二探测器层相对于所述X射线源被彼此前后地布置,并且所述第一探测器层和所述第二探测器层被配置为同时提供针对至少两个不同的X射线能量范围的所述X射线投影数据。
6.根据权利要求4所述的系统,其中,所述能量分辨X射线探测器是针对不同能量对光子进行计数的光子计数探测器。
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