[发明专利]指纹传感器的有缺陷的电容式传感器元件的校正与检测

权利要求书

1.一种计算机实现的方法，包括：

-获取布置在指纹传感器阵列(101)中在所述指纹传感器阵列中的相应位置处的电容式传感器元件(102)的电荷值；

-获取一个或更多个有缺陷的电容式传感器元件的列表(304)；

-对于所述列表(304)中的有缺陷的电容式传感器元件，选择其位置作为第一位置，并且，

-通过以下来执行第一操作(313)：在所述第一位置周围放置第一过滤器窗口并且根据所述第一过滤器窗口内的电荷值来计算用于所述第一位置的替换值，但是在位于所述第一过滤器窗口内的有缺陷的电容式传感器元件的第一阈值数目被超过的情况下，放弃计算用于所述第一位置的替换值；

-在所述第一操作(313)放弃计算用于所述第一位置的替换值的情况下，通过以下来执行第二操作(314)：在所述第一位置周围放置第二过滤器窗口并且根据所述第二过滤器窗口内的电荷值来计算用于所述第一位置的替换值，但是在位于所述第二过滤器窗口内的有缺陷的电容式传感器元件的第二阈值数目被超过的情况下，放弃计算用于所述第一位置的替换值；

其中，所述第二过滤器窗口具有比所述第一过滤器窗口更大的区域。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，在放弃对替换值求平均的情况下，分别根据所述第一过滤器窗口或所述第二过滤器窗口的区域内的电荷值计算用于所述第一操作或所述第二操作的替换值。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，用于所述第一操作和所述第二操作中的一者或两者的替换值被计算为平均值或中值或加权平均值。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，所述电容式传感器元件的电荷值被布置在数据结构中，并且其中，电荷值能够通过它们的在所述指纹传感器阵列中的位置来寻址；包括：

在所述第一操作(313)或所述第二操作(314)针对所述一个或更多个有缺陷的电容式传感器元件的列表中的每个位置计算有效替换值的情况下，

-用通过所述第一操作或所述第二操作计算的用于所述第一位置的替换值来输入或替换所述第一位置处的电荷值。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，包括：

在所述第二操作(314)放弃计算用于所述第一位置的替换值的情况下，

-向被配置成经由用户界面处理用户交互的软件应用发起有关所述指纹传感器损坏的报告。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，包括通过以下来执行第一测试操作以检测所述指纹传感器阵列中的有缺陷的电容式传感器元件：

-使用所述指纹传感器上的电路将在所述指纹传感器阵列中的至少第一组电容式传感器元件切换至第一参考电荷水平，并且当所述第一组电容式传感器元件被切换至所述第一参考电荷水平时，从所述第一组中的电容式传感器元件获取第一测试电荷值；

对于所述第一组中的电容式传感器元件和它们的相应第一测试电荷值：

-计算所述相应第一测试电荷值与预定义的第一参考值之间的偏差；

-对照第一标准评估所述偏差，并且在所述第一标准未被满足的情况下：将有关所述电容式传感器元件有缺陷的表示添加至所述列表。

7.根据权利要求6所述的方法，包括通过以下来执行第二测试操作以检测所述指纹传感器阵列中的有缺陷的电容式传感器元件：

-使用所述指纹传感器上的电路将所述指纹传感器阵列中的至少第二组电容式传感器元件切换至与所述第一参考电荷水平不同的第二参考电荷水平，并且当所述第一组电容式传感器元件被切换至所述第二参考电荷水平时，从所述第一组中的电容式传感器元件获取第二测试电荷值；

对于所述第二组中的电容式传感器元件和它们的相应第二测试电荷值：

-计算所述相应第二测试电荷值与预定义的第二参考值之间的偏差；

-对照第二标准评估所述偏差；并且在所述第二标准未被满足的情况下：将有关所述电容式传感器元件有缺陷的表示添加至所述列表。