[实用新型]中子散射用低温恒温器的样品支架

说明书

本申请所公开的一种中子散射用低温恒温器的样品支架，包括：走线管，走线管端部插入到低温恒温器的样品管内，根部伸出样品管管口；样品座，样品座设置于走线管的端部，用于固定样品；密封盖，密封盖设置于样品管管口，与样品管密封连接，走线管根部穿过密封盖中心向管口外部延伸；驱动装置，密封盖上方设有用于驱动走线管旋转的驱动装置。本实用新型所给出的中子散射用低温恒温器的样品支架，在走线管根部设置驱动装置，将样品固定于走线管的端部，通过控制走线管旋转，从而控制样品转动，便于中子束从不同角度射入样品；在样品座内设置温度调节装置，调节样品周围的温度，实现对样品环境温度的调节。

技术领域

本申请涉及加速器领域，尤其涉及一种中子散射用低温恒温器的样品支架。

背景技术

中子散射和X射线技术都是人类探索物质微观结构的有力手段，在宽广的研究领域如材料、物理、生物、化学、工程学等研究中都是很有效的研究工具。当一束中子入射到研究对象时，与材料中的原子核或磁矩发生相互作用，并向各个方向散射开来，通过测量散射出来的中子能量和动量变化，可以在微观尺度上研究其结构和运动规律。中子散射具有宽广的波长范围、合适的能量覆盖、直接与核作用、具有磁矩、样品扰动小、高穿透性等优点。

中子散射往往需要在低温、磁场、高压等环境下进行，其中低温环境是最常用的，提供低温设备的是低温恒温器。为了换样方便，中子散射用低温恒温器常采用非直冷式，即样品和冷头不直接接触，而是利用氦气将样品管上的低温通过热对流的方式传递到样品，样品管与冷头之间通过导热带连接。但现有的低温恒温器在当需要实现中子在不同角度入射样品时，不得不重新组装设备，调整用于固定样品的支架角度后在进行对应的实验，工作效率极为低下。

发明内容

本实用新型提供一种中子散射用低温恒温器的样品支架，旨在解决现有低温恒温器的支架变换样品角度困难的问题。

本申请所公开的一种中子散射用低温恒温器的样品支架，包括：

走线管，所述走线管端部插入到所述低温恒温器的样品管内，根部伸出所述样品管管口；

样品座，所述样品座设置于所述走线管的端部，用于固定样品；

密封盖，所述密封盖设置于所述样品管管口，与所述样品管密封连接，所述走线管根部穿过所述密封盖中心向所述管口外部延伸；

驱动装置，所述密封盖上方设有用于驱动所述走线管旋转的驱动装置。

所述的中子散射用低温恒温器的样品支架，其中，所述走线管上还套接有定位轮，所述定位轮外缘与所述样品管的管壁滑动接触。

所述的中子散射用低温恒温器的样品支架，其中，所述走线管上套接有隔热板，所述隔热板外缘与所述样品管内壁相贴合，所述隔热板上设有用于气流通过的缺口。

所述的中子散射用低温恒温器的样品支架，其中，所述定位轮沿所述走线管轴向设置多个。

所述的中子散射用低温恒温器的样品支架，其中，所述密封盖上设有用于固定所述驱动装置的固定座，所述驱动装置包括输出轴，所述走线管的根部与所述输出轴通过联轴器对接。

所述的中子散射用低温恒温器的样品支架，其中，所述走线管上固定设有指示其旋转角度的指针，所述密封盖上固定有与所述指针相适配的刻度盘。

所述的中子散射用低温恒温器的样品支架，其中，所述走线管与所述密封盖之间设有密封件。

所述的中子散射用低温恒温器的样品支架，其中，所述密封件包括固定于所述密封盖内的套管，所述套管上方设有依次嵌套于所述走线管上的密封圈、压紧盖以及压紧螺母，所述套管外表面与所述压紧螺母螺纹链接，用于通过旋拧压紧螺母从而使所述压紧盖将所述密封圈压紧在所述套管与所述走线管的连接处。