[实用新型]一种圆晶测试系统

说明书

本实用新型实施例提供了一种圆晶测试系统，包括：主控制器、测试机、探针台、测试通道控制模块；所述主控器分别与所述测试机、所述探针台相连以及所述测试通道控制模块相连，所述主控器为单片机，所述主控器分别与所述测试机通过连接接口进行连接，控制所述测试机并接收所述测试机的测试结果，并将测试结果传送至所述探针台；测试通道控制模块通过驱动器发出继电器驱动信号，通过控制继电器的驱动信号进行测试通道的闭合选择。应用本实用新型，可以同时测试多颗器件，提高器件的测试效率。

技术领域

本实用新型涉及器件测试技术领域，特别是涉及一种圆晶测试系统。

背景技术

圆晶(Wafer)是指硅半导体集成电路制作所用的硅芯片，由于其形状为圆形，故称为圆晶。圆晶是生产集成电路所用的载体，一般意义晶圆多指单晶硅圆片。单晶硅圆片由普通硅砂拉制提炼，经过溶解、提纯、蒸馏一系列措施制成单晶硅棒，单晶硅棒经过抛光、切片之后，就成为了圆晶。

目前分立器件类产品用JUNO分立器件测试系统在P8探针台测试。由于JUNO分立器件测试系统不能支持多颗同时测试，测试效率低。

因此，有必要提供一种新的圆晶测试系统解决上述技术问题。

实用新型内容

本实用新型实施例的目的在于提供一种圆晶测试系统，以解决现有技术中器件不支持多颗测试，测试效率低的问题，旨在提高器件的测试效率。具体技术方案如下：

为达到上述目的，本实用新型实施例提供了一种圆晶测试系统，主控制器、测试机、探针台、测试通道控制模块；

所述主控器分别与所述测试机、所述探针台相连以及所述测试通道控制模块相连，所述主控器为单片机，所述主控器分别与所述测试机通过连接接口进行连接，控制所述测试机并接收所述测试机的测试结果，并将测试结果传送至所述探针台；

测试通道控制模块通过驱动器发出继电器驱动信号，通过控制继电器的驱动信号进行测试通道的闭合选择。

本实用新型的优选实施方式中，所述测试通道控制模块的电路包括：开关W1、开关W2、开关W3和开关W4，连接接口(P10)、驱动器(U1)、第一组继电器、第二组继电器、第三组继电器和第四组继电器；

所述单片机分别通过所述的开关W1、开关W2、开关W3和开关W4与所述连接接口(P10) 相连，通过所述连接接口(P10)将继电器的驱动信号发送至驱动器(U1)、并通过所述驱动器(U1)输出的信号控制所述的第一组继电器、第二组继电器、第三组继电器和第四组继电器对应的测试通道的通和断，其中，所述驱动器(U1)为ULN2003。

本实用新型的优选实施方式中，所述的第一组继电器、第二组继电器、第三组继电器和第四组继电器分别包括四个继电器。

本实用新型的优选实施方式中，所述主控器通过发送信号至所述探针台用于控制所述探针台走动，在接收探针台准备好的信号后将测试结果传送至所述探针台。

本实用新型的优选实施方式中，所述单片机的型号为：STC11F02C。

本实用新型的优选实施方式中，所述单片机的晶振信号为12MHz。

本实用新型的优选实施方式中，还包括稳压电路，所述稳压电路通过稳压芯片(U2)将 12V电压转化为5V电压，其中，所述稳压芯片(U2)的型号为：UZ1084。