[实用新型]半导体测试编带一体机的双排料机构有效
申请号: | 201721887282.7 | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN207925438U | 公开(公告)日: | 2018-09-28 |
发明(设计)人: | 陈永胜;张晓飞 | 申请(专利权)人: | 奥特马(无锡)电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 | 代理人: | 陈娟 |
地址: | 江苏省无锡市锡山经济技术*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 吹气口 料盒 料盒支架 吹气块 半导体测试 一端设置 上端 产品排 感应器 一体机 编带 侧板 底座 双排 本实用新型 侧面固定 换料盒 插设 吹气 吸嘴 检测 | ||
本实用新型公开了一种半导体测试编带一体机的双排料机构,包括,料盒支架、底座、第一料盒、第二料盒、吹气块、侧板,所述底座上端料盒支架,所述料盒支架的内部插设第一料盒和第二料盒,所述料盒支架上端设置吹气块,所述吹气块的一端设置第二吹气口、第一吹气口,所述吹气块的另一端设置第四吹气口、第三吹气口,所述料盒支架的侧面固定设置有侧板。通过两侧吹气将吸嘴上的材料吹离,通过吹气块的内部导向,分别将两个入口的材料合二为一,排入相应的料盒,第一吹气口和第二吹气口将产品排入第一料盒,第三吹气口和第四吹气口将产品排入第二料盒,料盒前段装有感应器,感应器用于检测换料盒是否未安装或者未推到位。
技术领域
本实用新型属于半导体设备技术领域,具体涉及一种半导体测试编带一体机的双排料机构。
背景技术
半导体(semiconductor),指常温下导电性能介于导体(conductor)与绝缘体(insulator)之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指一种导电性可受控制,范围可从绝缘体至导体之间的材料。无论从科技或是经济发展的角度来看,半导体的重要性都是非常巨大的。今日大部分的电子产品,如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关连。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,而硅更是各种半导体材料中,在商业应用上最具有影响力的一种。
目前使用的双排料站均为单轨使用,更换为双轨后需要装四个料盒,机构较复杂,操作人员处理不方便,会出现混料情况。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种半导体测试编带一体机的双排料机构,以解决上述背景技术中提出的的双排料站均为单轨使用,更换为双轨后需要装四个料盒,机构较复杂,操作人员处理不方便,会出现混料情况的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种半导体测试编带一体机的双排料机构,包括,料盒支架、底座、第一料盒、第二料盒、吹气块、侧板,所述底座上端料盒支架,所述料盒支架的内部插设第一料盒和第二料盒,所述料盒支架上端设置吹气块,所述吹气块的一端设置第二吹气口、第一吹气口,所述吹气块的另一端设置第四吹气口、第三吹气口,所述料盒支架的侧面固定设置有侧板。
优选的,所述第四吹气口和第三吹气口与第二料盒内部贯通。
优选的,所述第一料盒和第二料盒的顶端设置有感应器,所述感应器固定设置在底座的侧面。感应器为欧姆龙原装接近型感应器EC-XA。
优选的,所述侧板设置在感应器的上方。
优选的,所述第一料盒和第二料盒的侧面均设置有手柄。
优选的,所述第一料盒和第二料盒均为矩形形状。
本实用新型的技术效果和优点:经改进后的双轨排料站,通过两侧吹气将吸嘴上的材料吹离,通过吹气块的内部导向,分别将两个入口的材料合二为一,排入相应的料盒,第一吹气口和第二吹气口将产品排入第一料盒,第三吹气口和第四吹气口将产品排入第二料盒,此机构仅需使用两个料盒,料盒前段装有感应器,感应器用于检测换料盒是否未安装或者未推到位,便于作业人员处理。机构较简单,操作人员处理方便,不会出现混料情况的问题。本实用新型结构简单方便,效率高,操作方便,实用性强。
附图说明
图1为本实用新型的半导体测试编带一体机的双排料机构结构的示意图;
图2为本实用新型的吹气块结构示意图。
图中:1、料盒支架;2、底座;3、第一料盒;4、第二料盒;5、感应器;6、吹气块;7、侧板;401、手柄;601、第一吹气口;602、第二吹气口;603、第三吹气口;604、第四吹气口。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奥特马(无锡)电子科技有限公司,未经奥特马(无锡)电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201721887282.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体测试编带一体机的弯脚机构
- 下一篇:半导体测试编带一体机的入带机构
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造