[实用新型]一种SiC热电堆型高温热流传感器有效

专利信息
申请号: 201721869324.4 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN207967050U 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 李铁;田伟;王跃林 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L35/22 分类号: H01L35/22;H01L35/32;H01L35/34
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 薄膜电阻 复合介质膜 平台区域 高温热流传感器 本实用新型 绝缘介质层 第二表面 第一表面 隔热腔体 热电堆型 硅衬底 高温恶劣环境 高温性能 热电材料 准确测量 单晶SiC 电极 热电堆 热流 凹入 图层 向内 覆盖 金属
【权利要求书】:

1.一种SiC热电堆型高温热流传感器,其特征在于,包括:

硅衬底,所述硅衬底具有第一表面和第二表面,在所述第一表面上设有沟槽以及由所述沟槽围绕形成的平台区域;其中,所述硅衬底为双抛单晶硅片;

复合介质膜,位于所述硅衬底的第一表面,覆盖所述沟槽表面及所述平台区域表面;

隔热腔体,设于所述硅衬底中,由所述硅衬底的第二表面向内凹入,位于所述平台区域的部分所述复合介质膜的下方;

P型SiC薄膜电阻块及N型SiC薄膜电阻块,位于所述平台区域位置的所述复合介质膜上,且局部位于所述隔热腔体的上方;

绝缘介质层,覆盖所述P型SiC薄膜电阻块及N型SiC薄膜电阻块以及所述复合介质膜;

金属图层,形成于所述绝缘介质层上,包括电极及引线,以将所述P型SiC薄膜电阻块及N型SiC薄膜电阻块连接形成热电堆。

2.根据权利要求1所述的SiC热电堆型高温热流传感器,其特征在于:所述沟槽的深度为1-50μm。

3.根据权利要求1所述的SiC热电堆型高温热流传感器,其特征在于:所述复合介质膜由单层或多层的氧化硅和氮化硅复合而成,厚度为1-10μm。

4.根据权利要求1所述的SiC热电堆型高温热流传感器,其特征在于:所述隔热腔体贯穿所述硅衬底,暴露出部分所述复合介质膜;所述隔热腔体具有矩形或梯形截面。

5.根据权利要求1所述的SiC热电堆型高温热流传感器,其特征在于:所述P型SiC薄膜电阻块及N型SiC薄膜电阻块的材料选自于4H-SiC、6H-SiC、3C-SiC中的一种;所述P型SiC薄膜电阻块及N型SiC薄膜电阻块的厚度小于1μm,厚度偏差不超过3%。

6.根据权利要求1所述的SiC热电堆型高温热流传感器,其特征在于:所述绝缘介质层的材料包括氧化硅、氮化硅的一种或两种。

7.根据权利要求1所述的SiC热电堆型高温热流传感器,其特征在于:所述金属图层的材料选自于钛、钨、铂中的一种或多种。

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