[实用新型]一种应用于气相色谱法测定氢气中痕量杂质的富集装置

权利要求书

1.一种应用于气相色谱法测定氢气中痕量杂质的富集装置，其特征是包括以下部件：

进气管（1），进气管（1）上设有减压阀（2）、第一截止阀（3）和气体质量流量计（4），进气管（1）与六通阀（6）连接；

出气管（8），出气管（8）与六通阀（6）连接，出气管（8）设有第二截止阀（7）；

浓缩柱（5），浓缩柱（5）与六通阀（6）通过管道连接；

六通阀（6），六通阀（6）上相邻的两孔分别连接载气管（9）和气相色谱仪（10）；

摆动齿轮（13），摆动齿轮（13）上设有富集吸附位置A（11）和脱附解吸位置B（12），富集吸附位置A（11）设有冷源杜瓦杯（17），脱附解吸位置B（12）设有热源杜瓦杯（18）；

顶升装置（14），顶升装置（14）设在浓缩柱（5）的下方。

2.根据权利要求1所述的一种应用于气相色谱法测定氢气中痕量杂质的富集装置，其特征是：在浓缩柱（5）、六通阀（6）、摆动齿轮（13）和顶升装置（14）的外面设有安全外壳（19），安全外壳（19）外设有升降开关（15）和摆动开关（16）。

3.根据权利要求2所述的一种应用于气相色谱法测定氢气中痕量杂质的富集装置，其特征是：所述的摆动开关（16）控制摆动齿轮（13）上富集吸附位置A（11）和脱附解吸位置B（12）的切换。

4.根据权利要求2所述的一种应用于气相色谱法测定氢气中痕量杂质的富集装置，其特征是：所述的升降开关（15）控制顶升装置（14）的升降。

5.根据权利要求1所述的一种应用于气相色谱法测定氢气中痕量杂质的富集装置，其特征是：所述的顶升装置（14）与冷源杜瓦杯（17）和热源杜瓦杯（18）接触。

6.根据权利要求1所述的一种应用于气相色谱法测定氢气中痕量杂质的富集装置，其特征是：所述的冷源杜瓦杯（17）和热源杜瓦杯（18）内直径比浓缩柱（5）的直径大。

7.根据权利要求2所述的一种应用于气相色谱法测定氢气中痕量杂质的富集装置，其特征是：所述的安全外壳（19）采用透明隔温的材质。

8.根据权利要求1所述的一种应用于气相色谱法测定氢气中痕量杂质的富集装置，其特征是：所述的六通阀（6）内部连通。

9.根据权利要求1所述的一种应用于气相色谱法测定氢气中痕量杂质的富集装置，其特征是：所述的冷源杜瓦杯（17）中放置液氮或低温油作为冷源；热源杜瓦杯（18）中放置热水作为热源。