[实用新型]电极帽的校验工具

说明书

本实用新型提供了一种电极帽的校验工具，校验工具包括：板体和设置在板体边缘处的至少一卡槽；卡槽用于容置电极帽，该卡槽由板体的边缘向内凹陷形成；卡槽的内壁包括：面向槽口的底壁以及位于底壁两侧的侧壁；底壁向卡槽槽口方向突出形成校验凸台，校验凸台位于卡槽内，且该校验凸台面向槽口的至少一个面构成校验电极帽的工作面，工作面垂直于卡槽的侧壁。本实用新型的校验工具既可以校验电极帽端面的尺寸，又可以校验电极帽端面的平整度，其结构简单、易于操作，可以准确地校验修磨后的电极帽是否合格，从而避免因电极帽端面过大或过小导致的虚焊、弱焊、压痕过深等质量缺陷，或是因上下电极帽端面不平整导致的焊点扭曲的不良结果。

技术领域

本实用新型涉及测量工具的领域，特别涉及一种电极帽的校验工具。

背景技术

电极帽在高强度的焊接作业中极易磨损，磨损后的电极帽直径会发生改变，而电极帽的直径会直接影响到相应的焊接参数。电极帽的直径发生偏差时，就需要进行修正。在点焊焊接工艺中，要求点焊机焊钳电极帽的修磨直径为6mm～8mm和8mm～10mm等范围。

现有技术中电极帽的修磨基本依靠人工，操作者在修磨过程中无法用肉眼判断修磨的精度以及电极帽端面的平整度，容易造成电极帽直径不符合标准或电极帽端面不平整的情况，从而导致焊点尺寸的偏差，影响焊接质量，严重时甚至会导致虚焊、弱焊及焊点压痕过深的质量缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决现有技术中无法准确校验电极帽直径大小及端面的平整情况，导致焊接偏差，影响焊接质量的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种电极帽的校验工具，所述校验工具包括：板体和设置在所述板体边缘处的至少一卡槽；所述卡槽用于容置电极帽，该卡槽由所述板体的边缘向内凹陷形成；所述卡槽的内壁包括：面向槽口的底壁以及位于所述底壁两侧的侧壁；所述底壁向所述卡槽槽口方向突出形成校验凸台，所述校验凸台位于所述卡槽内，且该校验凸台面向槽口的至少一个面构成校验电极帽的工作面，所述工作面垂直于所述卡槽的侧壁。

较优地，所述卡槽的数量为多个，相邻的两所述卡槽之间设有间隔。

较优地，各所述卡槽槽口的宽度不完全相同。

较优地，各所述卡槽用于校验的工作面的宽度不完全相同。

较优地，所述工作面的宽度为5mm～12mm。

较优地，所述校验凸台的工作面的一端至与其相邻的卡槽侧壁间的间距为第一间距，所述校验凸台的工作面的另一端至与其相邻的卡槽侧壁间的间距为第二间距，所述第一间距等于所述第二间距。

较优地，所述校验凸台呈矩形。

较优地，所述板体的外轮廓为矩形，所述卡槽设于所述板体的任意一边且该边与该卡槽内的校验凸台的工作面平行。

较优地，所述校验工具还包括多个开设在所述板体上的圆孔，所述多个圆孔沿所述板体的长度方向间隔布置。

较优地，所述多个圆孔的直径不同，且为6mm～12mm。

由上述技术方案可知，本实用新型的有益效果为：

本实用新型的校验工具既可以校验电极帽端面的尺寸，又可以校验电极帽端面的平整度，其结构简单、易于操作，可以准确地校验修磨后的电极帽是否合格，能够避免因电极帽端面过大或过小导致的虚焊、弱焊、压痕过深等质量缺陷，或是因上下电极帽端面不平整导致的焊点扭曲的不良结果，从而保证良好的焊接质量。

附图说明

图1是本实用新型电极帽的校验工具实施例的结构示意图。

图2是图1中A处的局部放大图。