[实用新型]余量打码装置及UV保护膜生产系统

说明书

本实用新型涉及UV保护膜生产设备技术领域，尤其是涉及一种余量打码装置及UV保护膜生产系统。余量打码装置，包括喷码器、分切机、收卷轴、计米器和处理器；喷码器与分切机连接，且喷码器的数量与分切机上的切刀的数量之差为一；收卷轴用于收卷分切后的UV保护膜；计米器用于测量收卷于收卷轴上的UV保护膜的长度，计米器与处理器连接；处理器与喷码器连接，用于控制喷码器按设定时间向UV保护膜的上表面喷印长度信息。本实用新型能够按设定时间向UV保护膜的上表面喷印长度信息，便于使用者在使用过程中，得知UV保护膜余量，从而根据实际需要选择长度适宜的保护膜，避免出现不够用的现象，以免造成浪费。

技术领域

本实用新型涉及UV保护膜生产设备技术领域，尤其是涉及一种余量打码装置及UV保护膜生产系统。

背景技术

在半导体产品(例如晶圆、二极管等)的封装过程中，通常需要采用UV保护膜。目前，半导体产品用UV保护膜一般都是直筒型或者是模切形式，一般以卷为单位。但是，在使用过程中，使用者通常不知道一卷UV保护膜还剩多少，在下一次使用时，很有可能所剩的UV保护膜的长度不够用，这就导致需要将UV保护膜撕除，重新对产品进行封装，在UV保护膜难以撕除的情况下，只能将未封装好的产品丢弃，造成浪费，给使用者带来了巨大的经济损失。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种余量打码装置，以解决现有技术中存在的无法得知UV保护膜余量的技术问题。

本实用新型的目的还在于提供一种UV保护膜生产系统，以解决现有技术中存在的无法得知UV保护膜余量的技术问题。

基于上述第一目的，本实用新型提供了一种余量打码装置，包括喷码器、分切机、收卷轴、计米器和处理器；所述喷码器与所述分切机连接，且所述喷码器的数量与所述分切机上的切刀的数量之差为一；所述收卷轴用于收卷分切后的UV保护膜；所述计米器用于测量收卷于所述收卷轴上的所述UV保护膜的长度，所述计米器与所述处理器连接；所述处理器与所述喷码器连接，用于控制所述喷码器按设定时间向所述UV保护膜的上表面喷印长度信息。

进一步地，所述处理器包括存储器和控制器，所述存储器用于存储不同的长度信息，且所述存储器与所述喷码器连接，用于向所述喷码器输送对应的长度信息；所述控制器与所述存储器连接，用于控制所述存储器中的长度信息的输送顺序的切换。

进一步地，所述长度信息为在设定时间点收卷于所述收卷轴上的所述UV保护膜的长度。

进一步地，所述设定时间为30～60s。

进一步地，所述设定时间为45s。

进一步地，还包括输入设备，所述输入设备与所述存储器连接，用于向所述存储器中输入所述长度信息。

进一步地，所述计米器为红外计米器。

进一步地，所述红外计米器包括红外发射器、红外接收器、所述红外发射器位于UV保护膜的下方，所述红外接收器位于所述UV保护膜的上方，且所述红外接收器与所述红外发射器相对设置，所述红外发射器与所述处理器连接。

进一步地，所述红外发射器发射的红外线是连续的。

基于上述第二目的，本实用新型还提供了一种UV保护膜生产系统，包括所述的余量打码装置。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：