[实用新型]一种五芯FA转LC接口的光器件测试设备有效
申请号: | 201721787846.X | 申请日: | 2017-12-20 |
公开(公告)号: | CN207798371U | 公开(公告)日: | 2018-08-31 |
发明(设计)人: | 王红阳 | 申请(专利权)人: | 上海鸿珊光电子技术有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200240 上海市闵行*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列光纤 安装槽 输出端 光纤安放槽 本实用新型 光器件测试 公头接口 母头接口 输入端 影响测试结果 玻璃材质 尺寸设计 器件损伤 直接对接 加工件 晃动 雕刻 损伤 光纤 扭曲 保证 测试 外部 | ||
本实用新型公开了一种五芯FA转LC接口的光器件测试设备,包括主体,主体的一侧设置有FA阵列光纤输出端安装槽,主体的另一侧设置有LC公头接口,主体的底部设置有LC母头接口,LC公头接口和LC母头接口共同构成FA阵列光纤输入端,FA阵列光纤输出端安装槽与FA阵列光纤输入端之间设置有光纤安放槽,FA阵列光纤输出端安装槽通过光纤安放槽与LC接口相连。本实用新型根据实际尺寸设计适合的安装槽,保证输出端不易晃动,不会影响测试结果,同时不会损伤该玻璃材质的器件损伤,上雕刻出独立的光纤安放槽,使得光纤自然轻松安放,不会扭曲,保护了器件的完整性,合理设计LC接口,保证LC接口尺寸是突出在加工件外部,可直接对接测试,方便快速。
技术领域
本实用新型涉及一种光通信器件测试设备,特别涉及一种五芯FA转LC接口的光器件测试设备。
背景技术
五芯的FA阵列光纤转LC接口的光器件是一种特殊应用的光器件,目前该器件处于研发完善阶段,因此市场上并没有对应该光器件的测试设备;该器件属于精密光器件,尺寸小,易损伤,对测试设备要求高。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷,提供一种五芯FA转LC接口的光器件测试设备,保证输出端不易晃动,不会影响测试结果,同时不会损伤该玻璃材质的器件损伤,使得光纤自然轻松安放,不会扭曲,保护了器件的完整性。
为了解决上述技术问题,本实用新型提供了如下的技术方案:
本实用新型一种五芯FA转LC接口的光器件测试设备,包括主体,所述主体的一侧设置有FA阵列光纤输出端安装槽,所述主体的另一侧设置有LC公头接口,所述主体的底部设置有LC母头接口,所述LC公头接口和LC母头接口共同构成FA阵列光纤输入端,所述FA阵列光纤输出端安装槽与FA阵列光纤输入端之间设置有光纤安放槽,所述FA阵列光纤输出端安装槽通过光纤安放槽与LC接口相连。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述光纤安放槽内置有石英光纤,且石英光纤的直径为0.9um。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述LC公头接口的数量为4个,且LC公头接口竖直纵向均匀排列。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述LC母头接口的数量为1个,且LC母头接口的直径大于LC公头接口的直径。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述主体的形状为长方体。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
本实用新型根据实际尺寸设计适合的安装槽,保证输出端不易晃动,不会影响测试结果,同时不会损伤该玻璃材质的器件损伤,上雕刻出独立的光纤安放槽,使得光纤自然轻松安放,不会扭曲,保护了器件的完整性,合理设计LC接口,保证LC接口尺寸是突出在加工件外部,可直接对接测试,方便快速。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制。在附图中:
图1是本实用新型的整体结构示意图;
图中:1、主体;2、FA阵列光纤输出端安装槽;3、LC公头接口;4、LC母头接口;5、光纤安放槽。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。其中附图中相同的标号全部指的是相同的部件。
此外,如果已知技术的详细描述对于示出本实用新型的特征是不必要的,则将其省略。需要说明的是,下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向,词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。
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