[实用新型]一种消除原子荧光分光光度计测定汞空白偏高的装置有效

专利信息
申请号: 201721777317.1 申请日: 2017-12-18
公开(公告)号: CN207816825U 公开(公告)日: 2018-09-04
发明(设计)人: 刘力维;刘丽 申请(专利权)人: 武汉中地检测技术有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/31
代理公司: 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 代理人: 冯必发
地址: 430000 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 原子荧光分光光度计 气液分离装置 断续流动 混合器 本实用新型 还原剂管 汞污染 汞吸收 进样管 载气管
【说明书】:

实用新型提供一种消除原子荧光分光光度计测定汞空白偏高的装置,包括断续流动泵、气液分离装置及连接所述断续流动泵和所述气液分离装置的混合器,一进样管、一还原剂管和一载气管通过所述断续流动泵与所述混合器连接,还包括原子荧光分光光度计,所述气液分离装置和所述原子荧光分光光度计之间连接有汞吸收装置。本实用新型的有益效果:能够降低汞污染、解决汞空白高的问题。

技术领域

本实用新型涉及原子荧光分光技术领域,尤其涉及一种消除原子荧光分光光度计测定汞空白偏高的装置。

背景技术

原子荧光分光光度计通常可测定汞、砷、硒、铅、锡、锑、铋、碲、镉、锗等元素。这些元素先被还原剂硼氢化钾(钠)还原成气态物质,然后进入原子荧光分光光度计内进行检测。然而,由于汞是一个全球性污染物,常见样品(尤其是地质样品)中的汞含量较高,在测定非汞元素时,样品中的汞会被还原成汞单质,然后进入仪器内部,造成仪器内部汞污染。导致以后在测定汞时,空白高居不下。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型的实施例提供了一种能够降低汞污染、解决汞空白高的问题的消除原子荧光分光光度计测定汞空白偏高的装置。

本实用新型的实施例提供一种消除原子荧光分光光度计测定汞空白偏高的装置,包括断续流动泵、气液分离装置及连接所述断续流动泵和所述气液分离装置的混合器,一进样管、一还原剂管和一载气管通过所述断续流动泵与所述混合器连接,还包括原子荧光分光光度计,所述气液分离装置和所述原子荧光分光光度计之间连接有汞吸收装置。

进一步地,所述还原剂管内具有还原剂,所述还原剂为硼氢化钾或者硼氢化钠溶液。

进一步地,所述汞吸收装置包括汞吸收瓶和收容于所述汞吸收瓶的碘溶液。

进一步地,所述碘溶液为0.1mol/L。

进一步地,所述汞吸收装置还包括导入管和导出管,所述导入管的一端与所述气液分离装置连接,另一端伸入穿过所述汞吸收瓶的瓶塞伸入所述碘溶液中,所述导出管的一端位于所述碘溶液的液面上方,另一端穿出所述汞吸收瓶的瓶塞与所述原子荧光分光光度计连接。

进一步地,所述气液分离装置的下端区域设有废液出口。

进一步地,所述载气管中的载气为氩气。

本实用新型的实施例提供的技术方案带来的有益效果是:本实用新型的消除原子荧光分光光度计测定汞空白偏高的装置,在所述气液分离装置和所述原子荧光分光光度计之间设有所述汞吸收装置,在测定非汞元素时,所述汞吸收装置能够吸收样品中被还原成汞单质的汞,防止汞进入所述原子荧光分光光度计而造成所述原子荧光分光光度计内部的汞污染,从而能够有效的解决汞空白高居不下的问题。

附图说明

图1是本实用新型消除原子荧光分光光度计测定汞空白偏高的装置示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本实用新型实施方式作进一步地描述。

请参考图1,本实用新型的实施例提供了一种消除原子荧光分光光度计测定汞空白偏高的装置,主要包括断续流动泵1、气液分离装置3及连接所述断续流动泵1和所述气液分离装置3的混合器2,还包括用于测定汞、砷、硒、铅、锡、锑、铋、碲、镉或者锗等元素的原子荧光分光光度计(未图示)。

一进样管5、一还原剂管7和一载气管6通过所述断续流动泵1与所述混合器2连接,通过所述断续流动泵1,将所述进样管5中的样品、所述还原剂管7中的还原剂和所述载气管6中的载气泵入所述混合器2,所述进样管5中的样品和所述还原剂管7中的还原剂在所述混合器2中发生反应,产生挥发性化学蒸汽,所述化学蒸汽从所述混合器2中出来进入所述气液分离装置3,在所述气液分离装置3中发生气液分离。

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