[实用新型]一种测量载流子迁移率的渡越时间法的实验装置有效

专利信息
申请号: 201721764879.2 申请日: 2017-12-18
公开(公告)号: CN207571260U 公开(公告)日: 2018-07-03
发明(设计)人: 王暄;姜允鹏;乔文静;唐德月 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 实验装置 玻璃板 载流子迁移率 本实用新型 光电二极管 触发光源 取样电阻 一端连接 时间法 示波器 测量 装置技术领域 发光二极管 触发信号 电气实验 稳压电源 依次相连 噪声影响 激光器 外触发 样品室 反射 光源 照射 激光 清晰
【说明书】:

实用新型公开了一种测量载流子迁移率的渡越时间法的实验装置,它涉及电气实验装置技术领域,实验装置以激光器作为触发光源,光一部分透过玻璃板照射在样品上,一部分由玻璃板反射到光电二极管上,稳压电源,样品室,取样电阻由导线依次相连,示波器一端连接发光二极管,一端连接取样电阻的一端;本实用新型把触发光源的激光同时作为光电二极管的外触发光源,此触发信号强度大,可以消除示波器上的噪声影响,得到信号更加清晰。

技术领域

本实用新型涉及一种测量载流子迁移率的渡越时间法的实验装置,属于电气实验装置技术领域。

背景技术

半导体材料的载流子迁移率是材料的固有属性,是材料传递空穴或电子的能力,对器件的发光性能有着决定性的影响,是半衡量半导体导电性能的重要参数。

载流子迁移率是反映半导体中载流子导电能力的重要参数,同样的掺杂浓度,载流子的迁移率越大,半导体材料的导电率越高。迁移率的大小不仅关系着导电能力的强弱,而且还直接决定着载流子运动的快慢,它对半导体器件的工作速度有直接的影响。在半导体材料中,由某种原因产生的载流子处于无规则的热运动,当外加电压时,导体内部的载流子受到电场力作用,做定向运动形成电流,即漂移电流,定向运动的速度成为漂移速度,方向由载流子类型决定。

目前测量载流子迁移率的方法很多,对于有机半导体材料,其载流子迁移率特别小,限制了传统方法的使用,常用的方法是渡越时间(TOF)方法。降低实验的影响,使示波器上显示出来的结果更加清晰,得到的载流子迁移率更加准确。

传统的测量载流子迁移率的实验装置采用信号自触发方式,此时激发光源会产生随机噪声,用示波器观察时噪声信号也同时存在,影响观察。

实用新型内容

针对上述问题,本实用新型要解决的技术问题是提供一种测量载流子迁移率的渡越时间法的实验装置。

本实用新型的一种测量载流子迁移率的渡越时间法的实验装置。它包含激光器、玻璃板、光电二极管、稳压电源、样品室、取样电阻、导线、示波器。激光器作为触发光源,光一部分透过玻璃板照射在样品上,一部分由玻璃板反射到光电二极管上,稳压电源,样品室,取样电阻由导线依次相连,示波器一端连接发光二极管,一端连接取样电阻的一端。

作为优选,所述的激光器发出的光一部分透过玻璃板照射在样品上,一部分被玻璃板反射到光电二极管上。

作为优选,所述的其特征在于把激光器发出的激光同时作为光电二极管外触发光源。

本实用新型的有益效果为:把触发光源的激光同时作为光电二极管外触发光源,此触发信号强度大,可以消除示波器上的噪声影响,得到信号更加清晰。

附图说明

为了易于说明,本实用新型由下述的具体实施及附图作以详细描述。

图1为本实用新型实验装置结构图;

图中:1-激光器、2-玻璃板、3-光电二极管、4-稳压电源、5-样品室、6-取样电阻、7-导线、8-示波器。

具体实施方式

使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明了,下面通过附图中示出的具体实施例来描述本实用新型。但是应该理解,这些描述只是示例性的,而并非要限制本实用新型的范围。此外,在以下说明中,省略了对公知结构和技术的描述,以避免不必要地混淆本实用新型的概念。

如图1所示,它包含激光器1、玻璃板2、光电二极管3、稳压电源4、样品室5、取样电阻6、导线7、示波器8。激光器1作为触发光源,光一部分透过玻璃板2照射在样品上,一部分由玻璃板2反射到光电二极管3上,稳压电源4,样品室5,取样电阻6由导线7依次相连,示波器8一端连接发光二极管3,一端连接取样电阻6的一端。

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