[实用新型]一种可切换测试方式的多功能暗箱

说明书

本实用新型涉及一种可切换测试方式的多功能暗箱，包括暗箱本体、聚光镜、样品台基座、样品台支架组件、第一光纤接头、第二光纤接头；样品台基座包括底座和旋转台，所述底座固定设置在暗箱本体内底面的居中位置，所述旋转台可水平转动地安装在底座上，样品台支架组件包括比色皿支架、比色皿或载物台支架、载物台。本实用新型的暗箱可以有效测试样品的反射率、透过率及吸光度，不仅实现在检测数据在反射率及透过率、吸光度之间的自由切换，也适应于多种规格比色皿、固体、液体、玻片、薄膜等样品的装夹定位与检测，满足了对多种样品进行检测的需求。

技术领域

本实用新型涉及一种用于光学测试的暗箱，具体为一种可切换测试方式的多功能暗箱。

背景技术

分光光度法是通过测定被测样品在特定波长处或一定波长范围内光的吸收度，对该物质进行定性和定量分析的方法，分光光度法广泛地应用于环境监测、食品检测、工业分析等领域。分光光度计(又称光谱仪) 则是根据分光光度法的原理设计的一种分析仪器。

暗箱用于模拟空间光学环境，供样品进行杂散光仿真试验，暗箱内设有样品台支架。分光光度计在使用过程中需要用光源照射进暗箱中的样品上，并通过收集样品发出光的反射数据进行分析。目前，常见的暗箱设备的检测方式较为单一，现有技术的暗箱中缺乏对样品的反射率、透过率及吸光度进行分析的功能，在检测反射率及透过率、吸光度是需要更换不同的检测设备，难以实现不同检测方式之间的转换，费时费力；另一方面，常见的样品台支架多为比色皿支架，而需要分析的样品的种类往往是不同(例如：液体、固体、粉末、玻璃等)，现有暗箱的样品台支架多为固定的，不能灵活的更换被测样品。因此，需要设计一种可切换测试方式的多功能暗箱解决现有技术的问题。

实用新型内容

为克服现有技术的缺陷，本实用新型提供了一种操作便捷、省时省力、可切换检测方式、能够适应不同规格的样品检测的多功能暗箱。

一种可切换测试方式的多功能暗箱，包括暗箱本体、聚光镜、样品台基座、样品台支架组件、第一光纤接头/光纤准直器、第二光纤接头，其特征在于，所述暗箱本体的右侧壁上设有贯通的光源过孔，所述暗箱本体的左侧壁上设有贯通的第一光纤过孔，所述光源过孔与第一光纤过孔相对设置，所述暗箱本体的后侧壁上设有贯通的第二光纤过孔；所述聚光镜设置在暗箱本体的中空内腔内对应于光源过孔的位置，所述第一光纤接头设置在暗箱本体的中空内腔内对应于第一光纤过孔的位置，所述第二光纤接头设置在暗箱本体的中空内腔内对应于第二光纤过孔的位置；所述样品台基座设置在暗箱本体的内底面上，所述样品台支架组件设置在样品台基座上。

进一步地，所述光源过孔的中心轴线与第一光纤过孔的中心轴线共线；所述光源过孔的中心轴线、第一光纤过孔的中心轴线与第二光纤过孔的中心轴线所在的平面共面。

进一步地，所述样品台基座包括底座和旋转台，所述底座固定设置在暗箱本体内底面的居中位置，所述旋转台可水平转动地安装在底座上，所述样品台支架组件设置在所述旋转台上。

进一步地，所述旋转台上设有托盘，托盘的上表面的居中位置还设有用于放置样品台支架组件的放置槽，所述样品台支架组件设置在所述放置槽内。

进一步地，所述旋转台的外圆周面上设置有旋转手柄。

进一步地，所述旋转台与旋转手柄一体成型。

进一步地，所述样品台支架组件包括比色皿支架和比色皿，所述比色皿支架的上表面的居中位置设有便于置入比色皿的通槽，所述比色皿支架的每一侧面上的居中位置均设有通孔，每一通孔均与通槽相连通，且位于比色皿支架前侧面、后侧面上的通孔的中心轴线与聚光镜的中心轴线以及第二光纤过孔的中心轴线均共线，位于比色皿支架左侧面、右侧面上的通孔的中心轴线与光源过孔以及第一光纤过孔的中心轴线均共线。