[实用新型]薄膜电阻测试结构

说明书

本实用新型揭示了薄膜电阻测试结构，包括工作台、设于工作台上的定位组件和调节组件，所述定位组件包括定位台、设于定位台上的基座，所述调节组件包括竖直设于工作台上的驱动装置和刻度组件，所述驱动装置包括竖直的滑轨、沿滑轨上下移动的滑块、驱动滑块的摇臂，所述刻度组件包括竖直的刻度尺、沿刻度尺移动的显示计，所述显示计与所述滑块水平连接固定，所述滑块的底部设有压头，所述压头与所述基座对应对位，所述压头和所述基座分别连接至微电阻测试仪。本实用新型实现快速稳定检测薄膜电阻。

技术领域

本实用新型属于薄膜检测技术领域，尤其涉及一种薄膜电阻测试结构。

背景技术

现有薄膜电阻检测大多采用金属夹子或测试笔，通常手持夹子或测试笔测试待测薄膜，由于夹持力不稳定，容易造成薄膜破损，影响检测数据的真实性。因此，需要一种适用于测试薄膜电阻的载具结构。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决上述技术问题，而提供一种薄膜电阻测试结构，从而实现快速稳定检测薄膜电阻。为了达到上述目的，本实用新型技术方案如下：

薄膜电阻测试结构，包括工作台、设于工作台上的定位组件和调节组件，所述定位组件包括定位台、设于定位台上的基座，所述调节组件包括竖直设于工作台上的驱动装置和刻度组件，所述驱动装置包括竖直的滑轨、沿滑轨上下移动的滑块、驱动滑块的摇臂，所述刻度组件包括竖直的刻度尺、沿刻度尺移动的显示计，所述显示计与所述滑块水平连接固定，所述滑块的底部设有压头，所述压头与所述基座对应对位，所述压头和所述基座分别连接至微电阻测试仪。

具体的，所述基座为柱形结构。

具体的，所述基座为铜质材料制成。

具体的，所述摇臂设于滑轨的外侧。

具体的，所述压头为铜质材料制成。

与现有技术相比，本实用新型薄膜电阻测试结构的有益效果主要体现在：定位组件稳定方便的固定薄膜，避免使用传统夹头，损伤薄膜；调节组件中的显示计指示具体滑块位移距离，有效控制摇臂的转动力，整体结构定位薄膜稳定，测量电阻数值准确。

附图说明

图1是本实用新型实施例的结构示意图；

图中数字表示：

1工作台、2定位台、21基座、3滑轨、31滑块、32摇臂、33压头、4刻度尺、41显示计、5线路、51微电阻测试仪。

具体实施方式

下面结合附图将对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

实施例：

参照图1所示，本实施例是薄膜电阻测试结构，包括工作台1、设于工作台1上的定位组件和调节组件。

定位组件包括定位台2、设于定位台2上的柱形基座21。基座21为铜质材料制成。

调节组件包括竖直设于工作台1上的驱动装置和刻度组件。驱动装置包括竖直的滑轨3、沿滑轨3上下移动的滑块31、驱动滑块31的摇臂32。摇臂32设于滑轨3的外侧。

刻度组件包括竖直的刻度尺4、沿刻度尺4移动的显示计41。显示计41显示其在刻度尺4位移的距离，显示计41与滑块31水平连接固定。

滑块31的底部设有压头33，压头33为铜质材料制成。压头33与基座21对应对位设置。

压头33和基座21分别通过线路5连接至微电阻测试仪51。