[实用新型]一种熔断器有效

专利信息
申请号: 201721679617.6 申请日: 2017-12-06
公开(公告)号: CN207587681U 公开(公告)日: 2018-07-06
发明(设计)人: 石晓光;陈聪莉;赫俊伟;张岁媚 申请(专利权)人: 西安中熔电气股份有限公司
主分类号: H01H85/05 分类号: H01H85/05;H01H85/08
代理公司: 苏州润桐嘉业知识产权代理有限公司 32261 代理人: 胡思棉
地址: 710068 陕西省西安市高新区锦业路69*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 熔体 熔断器 熔断器外壳 内帽 对称 本实用新型 安全性能 不良现象 反向弯折 固定设置 灭弧材料 片式结构 使用寿命 相对两侧 炸裂 长条状 外端 外帽 封闭
【说明书】:

一种熔断器,包括熔断器外壳、熔体、灭弧材料、封闭熔断器外壳两端的内帽和外帽;其特征在于所述熔体为长条状片式结构,在所述熔体的两端沿熔体长度方向将所述熔体的两端分为独立对称的两部分;所述熔体的两端的独立对称的两部分分别反向弯折固定设置在所述内帽外端面的相对两侧上。本实用新型的熔断器防止熔体向一侧倾斜靠近熔断器外壳,避免因熔体与熔断器外壳靠近引起熔断器炸裂的不良现象,提高了熔断器的使用寿命,提高了熔断器的安全性能。

技术领域

本实用新型涉及熔断器,尤其是指熔体位置可固定的熔断器结构。

背景技术

熔断器为常用的电气元器件,在电路中起到保护作用。一般熔断器的结构,包括熔断器外壳,在熔断器内设置有熔体和填充有灭弧材料,熔体一般为条状结构,其两端固定在熔断器外壳端璧内一侧上。通常做法是将熔体先固定在熔断器外壳中,然后封装,封装好后,再在通过一端的充填口向熔断器外壳内充填灭弧材料。由于熔体为长条状结构,且两端分别固定在熔断器外壳端璧一侧。因此,在填充时,灭弧材料会挤压熔体使其靠近熔断器外壳内壁。在熔体发热时,很容易因为熔体发热导致熔断器外壳爆裂,对于电压较高,管壳细长的熔断器更容易出现炸裂严重不良现象。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种熔断器,具有良好的电气性能,且安全性能好。

为解决上述技术问题,本实用新型提供的技术方案是一种熔断器,包括熔断器外壳、熔体、灭弧材料、封闭熔断器外壳两端的内帽和外帽;其特征在于所述熔体为长条状片式结构,在所述熔体的两端沿熔体长度方向将所述熔体的两端分为独立对称的两部分;所述熔体的两端的独立对称的两部分分别反向弯折固定设置在所述内帽外端面的相对两侧上。

在所述熔体两端开设通孔长槽,在所述通孔长槽的底端压设有折边线。

在所述所述熔体的两长侧边上沿间隔设置有多组对称的向内凹的弧形边,在每组所述对称的弧形边所在的熔体本体上开设有透孔。

本实用新型的熔断器,由于在熔体的两端采用独立的两部分,弯折固定时使独立两部分分别反向弯折固定,使熔体本体在在两端收到均衡的两个对立方向拉力,将熔体拉直居中,防止熔体向一侧倾斜靠近熔断器外壳,避免因熔体与熔断器外壳靠近引起熔断器炸裂的不良现象,提高了熔断器的使用寿命,提高了熔断器的安全性能。

附图说明

图1,本实用新型熔断器结构示意图。

图2,本实用新型熔体结构示意图。

图3,本实用新型熔体弯折后结构示意图。

具体实施方式

针对上述技术方案,现举一较佳实施例并结合图示进行具体说明。参看图1至图3,本实用新型的熔断器包括熔断器外壳、熔体、内帽、外帽、触刀(未图示),其中:

熔断器外壳1,为长条状结构,其材质可以是陶瓷管,可以为玻璃纤维管或三聚氰胺布管等绝缘管。在熔断器外壳的两端套设有内帽2,在内帽2的外部套设有外帽3。在内帽端面上开设有供熔体从熔断器外壳中穿出的透孔,一般该透孔为圆形孔。熔体4穿过熔断器外壳两端弯折后设置在内帽的外端面上。在熔断器外壳中填充有灭弧材料。

熔体4,为长条状片式结构。在熔体本体的两长侧边上间隔一定距离开设有对称的向内凹陷的弧形边5,在每组对称的弧形边所在的熔体上开设有透孔。每组弧形边及透孔结构可以在电路过载时,作为熔体的薄弱位置,可以首先熔断。在熔体的两端分别开设有通孔槽6。通孔槽将熔体两端分别分为对称的两个独立部分8。在通孔槽的底端压设有折边线7,熔体两端的独立部分可以沿着折边线整齐的折弯。熔体穿过熔断器外壳两端,在熔断器外壳的两端处沿着折边线向相反的方向折弯成近似于90度角,然后通过焊接或其他固定方式固定在内帽外端面的相对两侧上。由于熔体两端的独立部分向相反的方向折弯后并固定,对熔体本体产生两个相对方向的拉力,由于该两独立部分为对称设置,即通孔槽开设在宽度方向的中心线上,因此,该两相对方向的拉力相等,使熔体本体受到来自相对两方向的同等的拉力,在该平衡的拉力作用下,熔体本体则会绷直,不会向熔断器外壳内任何一方向倾斜,从而避免熔体的两端固定在内帽一侧时,导致熔体本体向一侧倾斜引起熔断器外壳炸裂的不良现象。从而提高熔断器的电气性能及安全性能。

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