[实用新型]一种IC芯片测试治具有效
| 申请号： | 201721674417.1 | 申请日： | 2017-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN207742087U | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | 钟依玲 | 申请（专利权）人： | 深圳宜特检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 深圳市智胜联合知识产权代理有限公司 44368 | 代理人： | 李永华;张广兴 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 螺纹微调 支撑板 支脚 测试治具 旋钮 支架 方向转动 芯片样品 芯片样品分析 本实用新型 测试效率 方向相反 观察视野 样品图像 有效地 加胶 治具 垂直 测试 清晰 | ||
【权利要求书】：
1.一种IC芯片测试治具，其特征在于，所述IC芯片测试治具包括支撑板和支架，所述支撑板安装在所述支架上；所述支架包括螺纹微调器和支脚，所述螺纹微调器的一端与所述支撑板连接，所述螺纹微调器的另一端与所述支脚连接，所述支脚与所述支撑板垂直；所述螺纹微调器包括旋钮，所述旋钮往第一方向转动时，所述支撑板上升，所述旋钮往第二方向转动时，所述支撑板下降，所述第二方向与所述第一方向相反。
2.根据权利要求1所述的IC芯片测试治具，其特征在于，所述支架还包括连接块，所述连接块设于所述支撑板与所述螺纹微调器之间，所述连接块用于辅助所述螺纹微调器对所述支撑板的位置进行调节。
3.根据权利要求1所述的IC芯片测试治具，其特征在于，所述支脚具有三个，三个所述支脚之间间距相等。
4.根据权利要求3所述的IC芯片测试治具，其特征在于，所述支撑板为长方形，所述支脚包括第一支脚、第二支脚和第三支脚，所述第一支脚与所述第二支脚分别设于所述支撑板较长的一边的边缘，所述第三支脚设于所述支撑板的另一较长边的中间。
5.根据权利要求1所述的IC芯片测试治具，其特征在于，所述支撑板上设有安装孔，所述安装孔用于外部安装芯片样品。
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