[实用新型]一种可编程门阵列老练装置

说明书

本实用新型公开了一种可编程门阵列老练装置，包括PCB板(1)、老化夹具座socket(2)、电源(3)和载板(4)，所述老化夹具座socket(2)设置在所述载板(4)上并且与所述载板(4)电连接，所述载板(4)与所述PCB板(1)电连接，所述电源(3)为所述PCB板(1)、老化夹具座socket(2)供电。通过加载动态工作信号、工作电压和负载，对可编程门阵列进行全面检测评估，对比验证实验是否达到设定试验的预定效果，将有制造缺陷的元器件在短时间内提前暴露出来。本实用新型较为实用，体积小，成本低，适用于各种环境试验的操作。

技术领域

本实用新型属于电子设备领域，具体涉及一种可编程门阵列老练装置。

背景技术

在电子技术飞速发展的今天，对整机的可靠性要求越来越高，电子元器件在正式使用之前进行筛选就显得非常必要。各种电子元器件包括二极管、晶体管、集成电路等在正常工作中往往由于制造缺陷等原因导致元器件失效而影响到整机的可靠性，因此在使用某批元器件时预先对该批元器件进行可靠性试验是极为重要的。电子元器件的失效现象可分为早期失效、随机失效和耗损失效，失效率因工作阶段(加电应力时间)而异，图1表示了各工作阶段和失效率的关系。

批量很大的一批产品，未经任何老化措施即投入使用，会发现该批产品在开始工作时失效率很高，但很快就逐渐降低。失效率下降的这个阶段称为早期寿命期。在这个时期内失效发生的原因是由于制造缺陷所致，不合格元器件在Te前失效后，元器件失效率就稳定下来，这段工作时期称为使用寿命期，这时期发生的失效率称为“随机”“偶发”“突发”失效。因为这些失效是随机的，是不可预测的，当产品工作到Tw时刻后，开始出现退化现象，失效率重新提高，这是因为元器件接近于“额定寿命”而出现老化和损耗所致。

可编程门阵列(FPGA)就是在特定的试验条件下，将有制造缺陷的元器件在短时间内提前暴露的专用试验装载工具。

目前国内外FPGA老化两种模式：①直接加载直流电应力，放置于特定环境中老化试验加速寿命试验。该试验模式不能加载工作动态信号，不能全面进行老化测试评估。②采用专用老化设备进行老化试验，设备可提供一站式服务进行批量老化试验。该模式老化试验成本较高，在一定程度上不能满足非标定制多品种少批量的老化试验及试验模型的建立。

实用新型内容

本实用新型针的目的是为了提供一种可编程门阵列老练装置，可编程门阵列放置在本实用新型可编程门阵列老练装置中，对可编程门阵列进行老练，通过检测装置可以检测出可编程门阵列是否合规等。

本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的：

一种可编程门阵列老练装置，包括PCB板1、老化夹具座socket2、电源3和载板4，所述老化夹具座socket2设置在所述载板4上并且与所述载板4电连接，所述载板4与所述PCB板1电连接，所述电源3为所述PCB板1、老化夹具座socket2供电；

所述老化夹具PCB板1中设置有外围电路，所述外围电路与可编程门阵列连接；所述外围电路包括输入端电路和输出端电路，所述输入端电路与可编程门阵列的输入端连接，所述输出端电路与可编程门阵列的输出端连接；

所述输入端电路包括多个电阻R1，所述电阻R1与可编程门阵列的输入端引脚连接；所述输出端包括多组串联的电阻R2和电阻R3，每组串联的电阻R2和电阻R3分别与可编程门阵列的输出端引脚连接；所述电阻R2的一端接地，另一端与所述电阻R3连接；所述电阻R3的另一端与所述老化夹具座socket2连接；所述电阻R2与所述电阻R3连接的一端还与可编程门阵列的引脚连接。

优选地，可编程门阵列设置在所述老化夹具座socket2中。

优选地，所述老化夹具座socket2中设置有加热装置，所述加热装置上设置有温度传感器。

优选地，所述PCB板1连接有八个以下所述老化夹具座socket2。