[实用新型]一种非接触式智能卡模块批量测试装置有效
| 申请号： | 201721665236.2 | 申请日： | 2017-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN207689606U | 公开（公告）日： | 2018-08-03 |
| 发明（设计）人： | 丁力丰;赵海荣 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 非接触式智能卡 批量测试装置 批量测试 读写器 射频信号传输 同轴电缆连接 电路板 本实用新型 测试成本 测试空间 模块测试 模块固定 射频通信 生产测试 输出端口 同轴电缆 创新性 天线端 与非 测试 节约 | ||
【权利要求书】：
1.一种非接触式智能卡模块批量测试装置，主要包括非接模块批量测试电路板和同轴线缆集合，其特征在于，其中，非接模块批量测试电路板由固定非接模块的夹具和同轴线缆接口座组成；同轴线缆接口座与所有固定非接模块的夹具的端口分别一对一相连接，同轴线缆接口座与同轴线缆集合相连接，且与同轴线缆集合中的每一根同轴线缆一对一连接；外部非接读写器与同轴线缆集合连接，非接读写器发出的信号通过同轴线缆集合、同轴线缆接口和固定非接模块的夹具传输到非接触式智能卡模块的两端，实现多个非接模块与多个非接读写器之间的正常通讯。
2.如权利要求1所述的一种非接触式智能卡模块批量测试装置，其特征在于，所述固定非接模块的夹具的个数的取值范围从1到N个，N为大于1的自然数，固定非接模块的夹具能够根据非接模块的尺寸大小来调整活动范围和接触松紧程度。
3.如权利要求1所述的一种非接触式智能卡模块批量测试装置，其特征在于，所述同轴线缆集合由1到N根同轴线缆组成,N为大于1的自然数。
4.如权利要求1所述的一种非接触式智能卡模块批量测试装置，其特征在于：多个非接触式智能卡模块可以集中放置于同一个有限的空间中进行批量测试，并且互相不产生通讯干扰。
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