[实用新型]一种深紫外探测器的测试装置有效

专利信息
申请号: 201721662327.0 申请日: 2017-12-04
公开(公告)号: CN207528340U 公开(公告)日: 2018-06-22
发明(设计)人: 金忠芳;陈庆文 申请(专利权)人: 北京华德恒业科技有限公司
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 北京爱普纳杰专利代理事务所(特殊普通合伙) 11419 代理人: 何自刚
地址: 101407 北京市昌平区北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 凸透镜 深紫外探测器 深紫外光源 测试腔 可见光探测器 外部控制箱 测试装置 间隔设置 热成像仪 测试台 电连接 本实用新型 测试 测试数据 制造成本 开口端 可开合 灵敏度 探测端 探测器 端盖 研发 照射 开口
【权利要求书】:

1.一种深紫外探测器的测试装置,包括具有开口端的测试腔(1),所述开口端设置有可开合的端盖(2),其特征在于,所述测试腔(1)底部依次间隔设置有深紫外光源(11)和测试台(5),所述深紫外光源(11)电连接有外部控制箱(4),所述测试台(5)上设置有深紫外探测器(6),所述深紫外光源(11)和所述测试台(5)之间依次间隔设置有第一凸透镜(10)、第二凸透镜(8)和第三凸透镜(7),所述深紫外光源(11)发出的光线依次经过所述第一凸透镜(10)、所述第二凸透镜(8)、所述第三凸透镜(7)照射至所述深紫外探测器(6)的探测端面上;

所述测试腔(1)内还设置有热成像仪(3)和可见光探测器(9),所述热成像仪(3)和所述可见光探测器(9)分别电连接所述外部控制箱(4)。

2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述深紫外光源(11)的中心、所述第一凸透镜(10)的中心、所述第二凸透镜(8)的中心、所述第三凸透镜(7)的中心和所述深紫外探测器(6)之探测端面的中心均处于同一直线上。

3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述第一凸透镜(10)、所述第二凸透镜(8)和所述第三凸透镜(7)的成像位置均可调整。

4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述可见光探测器(9)设置与所述第一凸透镜(10)和所述第二凸透镜(8)之间。

5.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于,所述热成像仪(3)固接于所述端盖(2)朝向所述测试腔(1)的端面上。

6.根据权利要求5所述的测试装置,其特征在于,所述热成像仪(3)设置于所述第一凸透镜(10)和所述第二凸透镜(8)之间。

7.根据权利要求6所述的测试装置,其特征在于,所述外部控制箱(4)包括有控制器,所述控制器分别电连接所述深紫外探测器(6)、所述热成像仪(3)、所述可见光探测器(9)和深紫外光源(11),所述控制器还电连接有显示屏。

8.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于,所述端盖(2)与所述测试腔(1)的连接处设置有密封装置。

9.根据权利要求8所述的测试装置,其特征在于,所述密封装置为密封圈,所述密封圈固接与所述测试腔(1)的开口端。

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